比表面及介孔分布测定仪
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精微高博静态法比表面及介孔分布测定仪经技术鉴定，控制精度和测试精度达到国际先进水平，已在国内普遍应用。

比表面及介孔分布测定仪技术参数：
比表面及介孔分布测定仪测试原理：静态容量法，低温氮吸附（或其他吸附气体）；
比表面及介孔分布测定仪测试精度：≤± 1.0%（比表面）；≤0.02nm（可几孔径）；
比表面及介孔分布测定仪测试气体：高纯氮气（99.999%），或其它气体(如Ar、Kr、CH4、CO2等)；
比表面及介孔分布测定仪测试范围：0.005(m2/g)--至无上限(比表面积)；2nm-500nm(介孔及大孔分析)；0.35nm-2nm(微孔常规分析)；
比表面及介孔分布测定仪分析站：4个独立样品分析站，可同时进行样品测试；
比表面及介孔分布测定仪杜瓦瓶：每个分析站原配单独的真空玻璃内胆杜瓦瓶，共4个；
比表面及介孔分布测定仪升降系统：4个样品分析站原位设有4套独立的升降系统，电动控制、自动控制 ，且互不干扰；
比表面及介孔分布测定仪脱气系统：4个样品分析站标配同位、原位脱气系统：4个独立加热包，4套独立温控系统，均可程序升温控制，程序升温设置阶数多达10阶；另外可选配外置式异位4位真空脱气预处理系统；
比表面及介孔分布测定仪脱气温度：室温—400℃，精度±1℃；
比表面及介孔分布测定仪压力传感：样品分析站采用原装进口硅薄膜电容式压力传感器，4支0-1000 Torr(0-133KPa)，精度≤0.15％（读值）；
比表面及介孔分布测定仪真空泵：采用外置式进口双级旋片式机械真空泵（自动防返油）；
比表面及介孔分布测定仪极限真空：极限真空度4-6.7*10-2Pa；
比表面及介孔分布测定仪氮分压范围：P/Po 准确可控范围达10-4-0.998 ，可测1000点以上；
比表面及介孔分布测定仪数据控制方法：平衡压力智能控制法，吸脱附孔径分布分析分六段优化设置，全自动控制；
比表面及介孔分布测定仪仪器规格：尺寸，长58cm×宽45cm×高82cm；重量，85 Kg；

比表面及介孔分布测定仪应用领域:吸附剂(如活性碳,硅胶,活性氧化铝,分子筛,活性炭,硅酸钙,海泡石,沸石等);陶瓷原材料(如氧化铝,氧化锆,硅酸盐,氮化铝,二氧化硅,氧化钇,氮化硅,石英,碳化硅等);橡塑材料补强剂(如炭黑,白碳黑,纳米碳酸钙,碳黑,白炭黑等);电池材料(如钴酸锂,锰酸锂,石墨,镍钴酸锂,氧化钴,磷酸铁锂,钛酸锂,三元素,三元素材料,聚合物,聚合物材料,聚合物电池材料,碱锰材料,锂离子材料,锂锰材料,碱性材料,锌锰材料,石英粉,镁锰材料,碳性材料,锌空材料,锌汞材料,乙炔黑,镍氢材料,镍镉材料,隔膜,活性物资,添加剂,导电剂,缓蚀剂,锰粉,电解二氧化锰,石墨粉,氢氧化亚镍,泡沫镍,改性石墨材料,正极活性物质,负极活性物质,锌粉等);金属氧化物(如氧化锌,氧化钙,氧化钠,氧化镁,氧化钡,氧化铁,氧化铜等);磁性粉末材料(如四氧化三铁,铁氧体,氧化亚铁等);纳米金属材料(如纳米银粉,铁粉,铜粉,钨粉,镍粉,铝粉,钴粉等);环保行业(如颜填料,柱填料,无机颜料,碳酸钙,氧化硅,矿物粉,沉积物,悬浮物等);无机粉体材料(如氧化钛,二氧化钛等);纳米材料(如纳米粉体材料,纳米陶瓷材料等);稀土,煤炭,水泥,储能材料,催化剂(硅藻土),净化剂,助滤剂,发光稀土粉末材料,粉体材料,粉末材料,超细纤维,多孔织物,复合材料等粉体和颗粒材料的比表面积及孔径的检测分析,广泛适用于高校及科研院所材料研究和粉体材料生产企业产品质量监控.

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