FEI 电子显微镜技术参数：
1.分辨率: 
二次电子: 
高真空模式 3.0nm @ 30kV, 8nm @ 3kV 
高真空减速模式 7nm @ 3kV (可选项) 
低真空模式 3.0nm @ 30kV, 10nm @ 3kV 
环境真空模式 3.0nm @ 30kV 
背散射电子 4.0nm @ 30kV 
2.样品室压力zui高达2600Pa 
3.加速电压200V ～ 30kV，连续调节 
4.样品台移动范围 
Quanta 250: X=Y=50mm 
Quanta 450: X=Y=100mm 
Quanta 650: X=Y=150mm
FEI 电子显微镜主要特点：
1.FEI ESEM(环境扫描电镜)技术, 可在高真空、低真空和环境真空条件下对各种样品进行观察和分析。 
2.所有真空条件下的二次电子、背散射电子观察和微观分析。 
3.先进的系统结构平台，全数字化系统。 
4.可同时安装能谱仪、波谱仪和EBSP系统。 
5.可安装低温冷台、加热台、拉伸台等进行样品的原位、动态观察和分析。

Tecnai G²透射电子显微镜是FEI生产的新型、性能优越的艺术级仪器。Tecnai G²运行在Windows XP的操作系统下，提供了高性能和多功能, 用户在使用方便、个性化和安全环境下可轻易获得大量的高质量分析成果。Tecnai G²使透射电子显微镜的操作比以往更方便简捷。  
在Tecnai G²上, 所有的操作和探测系统(包括透射扫描附件、视频监视器、CCD相机、EDX能谱仪、EELS电子能量损失谱和能量过滤器)可以全部集成到一个系统之中, 通过一个显示器、鼠标和键盘进行操作。
对材料特性的全面认识是理解材料性能的基本前提。材料形态、晶体结构、化学成分、界面结构、表面以及缺陷都对材料的性能产生影响。透射电子显微镜已经被证实是在小到埃级尺寸研究各种普通材料和先进材料的非常有效的技术。它能够产生很多的信号, 这些信号携带了不同类型的有用信息。Tecnai G² 20经过特殊设计可以快速有效地采集和处理这些信号。将高分辨图像、明场/暗场图像、STEM图像、电子衍射和详细的微观分析有机的结合起来, 使Tecnai G² 20成为材料分析研究的重要仪器。 
Tecnai G² 20可以根据不同用户的配置要求供货。标准型仪器提供了已被证实的多项先进技术: 既可得到高分辨图像又保持高倾角(zui大40°)的S-TWIN物镜, 提供样品精确控制和机械稳定性优异的CompuStage样品台。Tecnai G² 20可以安装完全集成式设计的数字化的STEM(透射扫描附件)、EDX(能谱仪)和能量过滤或PEELS(能量损失谱)。这些技术可结合起来完成频谱分布和频谱图像的分析工作。Tecnai G² 20为材料分析研究用户提供了稳定性、操作方便性和高性能的优异组合。无论是在常规分析, 还是亚微米研究, Tecnai G² 20都能够满足日益增多的样品数量。 
为满足结构生物学研究的需要，FEI公司还设计制造了配置TWIN物镜和Cryo冷冻样品台的专门系统: Tecnai G2 20 TWIN
其主要技术特点： 
- TWIN物镜系统, 点分辨率 0.27nm 
- 样品zui大倾角 +/- 70° 
- Cryo液氮冷冻样品台及冷冻转移设备 
- 全自动化的数据采集和数据处理系统

FEI 电子显微镜技术参数：
1.LaB₆灯丝或钨灯丝 
2.点分辨率 
U-TWIN 0.19nm 
S-TWIN 0.24nm ; TWIN 0.27nm
3.加速电压 20-200kV,连续可调 
4.放大倍数 25x - 1100kx 
5.样品zui大倾角: S-TWIN +/- 40° ; TWIN +/- 70°
6.计算机控制的全数字化电镜,基于Windows XP的用户界面

FEI 电子显微镜主要特点：
1.100%数字化系统 
2.FEIS-TWIN/U-TWIN物镜 
3.CompuStage样品台提供高精度的样品位置控制 
4.全连锁的洁净的真空系统 
5.可选完全集成化的各种附件, 如能谱仪、CCD相机等