发送询价
变温霍尔效应仪霍尔效应测量检测仪
型号: HG02-HT-648
技术指标:
技术指标:
型号
|
主要技术指标
|
HT-648
|
霍尔效应的测量是开展半导体研究的重要方法。本机利用计算机的数据采集和处理在80K-380K温度范围内对霍尔系数和电导率的联系测量,进行半导体电机制及散射机制的研究,并可确定半导体的一些基本参数,如导电类型、载流子浓度、迁移率、禁带宽度以及杂质电离能等。
|