PLD-MPCS2.0 显微镜颗粒度分析系统
2024-04-30 13:57  点击:2383
价格:235800.00/台
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显微镜颗粒度分析系统   

显微镜清洁度分析系统 

显微镜污染物分析系统                   

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普勒验室认证产品

订货号:860310CN8601

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仪器介绍:

显微镜颗粒度分析系统是普勒新世纪实验按照普洛帝全球分析仪器事业部的规划,于2001年推向市场的成熟系统仪器;

观察颗粒形貌,还可以得到粒度分布、数量、大小、平均长径比以及长径分布等,为科研、生产领域增添了一种新的粒度测试手段;

该系统为一种图像法粒度分布测试以及颗粒型貌分析等多功能颗粒分析系统,该系统包括光学显微镜、数字CCD摄像头、图像处理与分析软件、电脑、打印机等部分组成;

将传统的显微测量方法与现代的图像处理技术结合的产物;

专用数字摄像机将显微镜的图像拍摄及扫描;

R232接口数据传输方式将颗粒图像传输到分析系统;

颗粒图像分析软件及平台对图像进行处理与分析;

显示器及打印机输出分析结果;

直观、形象、准确、测试范围宽以及自动识别、自动统计、自动标定等特点;

避免激光法的产品缺陷,扩展检测范围;

现实NASISO等国际标准方法的认可;

提供行业独有的“OIL17服务星” 签约式服务,365天无忧使用。

执行标准:

方法标准:ISO 4407JJS B9930GB/T 20082GJB 380.5AGJB 380.8AQJ 2724.4QC/T 29105.4JG/T 70JB/T 9591.3JB/T 5365.2ISO16232 VDA19 ISO4406等;

判定标准:GB/T14039ISO4406ISO11171NAS1638、 MIL-P-28809MILSTD-1246DL/T432GJB380GJB420DL/T1096等。

应用场合:

应用场合更加广泛,航空、航天、航海、电力、石油、化工、交通、港口、冶金、机械、汽车、制造等领域进行固体颗粒污染度检测。 

仪器性能:

测试范围: 1-500μm

统放大倍数:40l000

zui大分辨率:0.1μm

显微镜误差:0.02(不包含样品制备因素造成的误差)

重复性误差:< 5%(不包含样品制备因素造成的误差)

数字摄像头(CCD)300万像素

标尺刻度:0.1μm

分析项目:粒度分布、长径分布、圆形度分布等

自动分割速度:< 1

分割成功率:> 93%

软件运行环境:Windows 2000Windows XP

接口方式:RS232USB方式

具体详情请电询普洛帝中国服务中心! 普洛帝、Puluody、普勒、pullPuluody公司在中国大陆注册的商标。

联系方式
公司:西安普研检测工程有限公司
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