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GUT6000A数字IC测试仪,自动搜寻 IC 编号功能,54/74 系列 TTL 及高速 CMOS ,4000 及 4500 系列 CMOS
GUT-6000A是一款台式IC测试仪。鉴于使测试任务自动化，GUT-6000A包含自动搜索功能和回圈测试功能等高级功能。并提供智能化连续侦测坏损的IC的功能。自我诊断功能和超载保护功能使GUT-6000A更接近零维护，减少了使用者不必要的争议。测试器件大1800多种常见的TTL和COMS器件，真正在数字IC测试领域实现一个机型测量所有器件的解决方案。
循环测试
自动搜寻 IC 编号功能
开机自我侦测诊断功能
过载保护功能
可测量的IC 种类超过 1800 种
54/74 系列 TTL 及高速 CMOS
4000 及 4500 系列 CMOS
测试针脚: 28 Pin
测试范围 54/74 系列 TTL 4000 及 4500 系列 CMOS 测量种类 约 1800 种 测试电压 5V DC 测试时间 高测试速度，平均 0.8 秒可完成一个 IC 电源 交流 100V~240V +10%, 50/60Hz 尺寸&重量 335(宽) x 105(高) x 300(长) mm
约 1.5 公斤
GLP-1A 逻辑测试棒附脉冲发生器 350.00 GPG-2A 脉冲发生器测试棒 300.00 GUT-6600 便携型数字IC测试仪,54/74TTL系高速CMOS,4000/4500系CMOS 3000.00 GUT-6001C 便携型EPROM 写入器 3600.00 GUT-6000A 数字IC测试器，54/74TTL系及高速CMOS，4000及4500系CMOS 10300.00 GUT-7000 模拟IC测试器 38000.00
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