CW2010Z轴测量显微镜
2011-10-12 16:39  点击:1607
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CW2010—Z轴测量显微镜

2010年测维光电成功研发出一整套显微测量系统,为我国显微数码成像行业的发展,尽一份绵薄之力,我们相信测维的明天更美好!

全部显微镜系统由进口件经测维工厂精心组装而成,其光学品质达到国外同功能台式机水平,在技术上填补了国内这方面的空缺,又因为是整系列奉献所以不用再东拼西凑的组合成套,具有很优越的兼容性。工业级检查显微镜具明显的优势是专门为在线生产量身打造,攻克了目力观察的弊端和场地狭小的限制。提高了生产流水线的技术含量和整合品质。其超值的优越性是不言而喻的

一、Z轴测量显微镜 特点: 以影像法为测量原理, 采用光学焦点位置检测方式进行非接触高低差测量。不仅可以对准目标影像, 还能观察测量点的表面状态,对高度,深度,高低差等进行测量。本仪器的各种镜筒还具有明暗场,微分干涉,偏光的观察功能。所以对极细微的间隙高低差,夹杂物、微米以下的突起、细微划痕进行观察。二、Z轴测量显微镜 用途适用于硅片、ICLCD、TFT、PCB、MEMS激光加工、晶片测试、半导体材料、线束加工蚀刻、液晶电池盖、导线框架等产品的检查观察.也适用于经过磨抛、化学处理的工件表面的金相组织结构,几何形状进行显微观测。并且有三维的计量功能,其解析率达0.0005mm。因此是精密零件,集成电路,半导体芯片,光伏电池,光学材料等行业的必用仪器。三、Z轴测量显微镜 主要规格    2.1  镜筒:铰链式三目头部   30°倾斜   270°旋转    2.2  高眼点平场目镜: WF10X/22    2.3  超长物距平场物镜:PLL5X/0.12  WD 26.1, PLL10X/0.25 WD 20.2, PLL20X/0.40  WD 8.80, PLL50X/0.7  WD 3.68。    2.4  右倾式内定位5孔转换器    2.5  落射式照明系统: 卤素灯12V30W, 内置孔径光阑,五孔转盘滤色装置(黄、绿、蓝、磨砂)推拉式检偏器和起偏器。    2.6  调焦结构:粗微动同轴调焦, 带锁紧和限位装置  粗动升降范围30mm  微动格值  0.001mm*100格  数显解析值 0.0005mm。    2.7  光源:卤素灯 亮度可调  6V30W(BD:12V50W)    2.8  普通透射照明:可选    2.9  Z轴升降范围:手轮转动130mm  允许zui高工件 130mm    X轴移动范围  200mm  解析率:0.001mm  可解锁手动快进    Y 轴移动范围  100mm  解析率:0.001mm  可解锁手动快进    测量精度(3+L/100)mm  (L: 被测长度)    落射光测量误差≤0.08%    3.0工作台尺寸: 360mm*250mm   玻璃板尺寸: 225mm *175mm   工作台承重: 30kg      3.1 仪器外型尺寸:380mm*550mm*830mm      3.2 净重:100kg  毛重:120kg 

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