EX-3000 日本电测荧光膜厚仪
2014-05-03 15:30  点击:1464
价格:1.00/台
品牌:日本电测
起订:1台
供应:100台
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 荧光膜厚仪;日本荧光X线膜厚计;荧光膜厚计;镀层测厚仪;荧光X线镀层测厚仪
 
 
产品型号: EX-3000
 品牌:日本电测
产品简介: 
 本机能精确测量极细小物件镀膜厚度,可进行单层及多层膜厚测定、合金膜厚成份比同时测定及无素的光谱峰值测定分析。

主要技术参数: 
 仪器特点:
 搭载MS-WINDOWS系统(优越的操作性与高精度测定)
 使用与IBM PC兼容个人电脑,采用MS-WINDOWS软体,使用时多彩多姿。
 采用二种滤波器
 用用数位式滤波器外另有机械式滤波器(两种滤波器),在测定时,若是适当的条件下,
 经常可得到zui高的精度。
 准值仪5种孔径内藏式
 zui小的准值仪孔径仅0.1 mm,可测定极微小的部品。
 标准:0.1,0.2,0.5,1.0,2.0另备有2种特别规格可供选购。
 0.05,0.1,0.2,0.3,0.5
 0.05*0.5,0.1,0.2,0.3,0.5
 
 自动测定测量台
 利用鼠标来调整测量位置,非常敏捷快速。或是测量位置已完成登陆时,可连续自动测定,
 利用座标补正、连结频道,来应付各种测量轨迹。亦可用自动测定来作标准片校正。
 优越的显示机能
 测定部显示尽像的表示
 X线照射部可由WINDOWS画面上取得照射部的表示。从准仪照射测定物的位置,可由倍率
 率更机能来实现尽面上测出物放大。
 在膜厚测定中的能谱表示
 由多频分析器可快速处理能谱分析。可执行测定物的能谱分析表示,操作简单。
 提长资料处理的速度
 充实测量报告的作成机能
 采用MS-WINDOW软件,测定画的撷取,非常简便,可充衬测量报告的制作机能。可同时间
 隔处理多项工作,机器在测量中亦可处理其它工作:包括如测量报告的制作。
 测定物膜厚附着分布表示
 以三次元图案来表示测定物膜厚附着状态的分布,作判定时一目了然。 获得安心的保证性。
 自己诊断机能及X线管保食机能
 自己诊断机能,迅速的对策来排除机器的因扰。附有X线管的使用时间及耐久时间表示机能,
 可加强保养的安全性。
 仪器详细介绍:
 1. X线源:油浸式1.2mA小型微小焦点X线管. 50kV管电压,可变管电压。
 2. 照射方式:由上而下垂直照射方式。
 3. 检出器:比例计数管。
 4. 滤波器:采用 Co 和 Ni 双滤波器及数字式滤波器,可单一或同时使用。
 5. 准直仪:Collimator 采用五种孔径一体成型式,可自动切换使用。
 0.1,0.2,0.5,1.0,2.0φ㎜.
 (选购) 0.05×0.5,0.05,0.1,0.2,0.5φ㎜.
 (选购) 0.05,0.1,0.2,0.3,0.5φ㎜.
 6. 样品观测系统:彩色CCD及高画质显示屏。
 7. 多能谱分析器:使用256高频分析器,光谱自动分析,在执行测量及运算时,非常快速。
 贰. 计算机操作部:
 8. 计算机系统:(※仅供参考) 
   IBM 兼容中文个人计算机.  
   CPU:Intel Celeron 1GHz. 
   RAM:128 MB.
   Floppy Disk:3.5 ×1,  40倍速 CD-ROM ×1.
   Hard Disk:40 GB.
   17" 高画质显示屏.
   EPSON彩色喷墨式打印机。
 9. 本机型(CO**OS-1X系列)之操作系统采中文窗口(Windows98)对话式操作,非常简便。
 
 参. 特性说明:
 10. 测量项目:
   单层膜厚测定.    
   2层膜厚测定.  
   3层膜厚测定.    
   无电解镍膜厚测定.  
   合金膜厚成份比同时测定.  
   元素的光谱峰值测定分析.
 11. 测量材质:原子序22(Ti) ~ 82(Pb)为激发法测量。    原子序22以下为吸收法测量。
 12. 测量范围:原子序22 ~ 24 , 约 0.2 ~ 20 um.         原子序25 ~ 40 , 约 0.1 ~ 30 um.   原子序
 41 ~ 51 , 约 0.2 ~ 70 um.   原子序52 ~ 82 , 约 0.05~ 10 um.
 13. 测量机能: 
       同一点重复测定机能 
   输出形式设定.
       能谱测定.
 14. 测量条件或膜厚规格可以保存.
 当要测量相同的制品时,若测量条件已储存,可以马上进行测量。
 zui大检量线档案数:可登录储存100组档案。
 zui大测量档案数  :可登录储存300组档案。
 15. 档案记录:
   每一个批号可储存无限个测量数据.(因所使用的计算机之容量大小而定)
   每一个测量档案可输入及储存公司名称.
   每个批号可单独执行统计处理.
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   每个测量档案可输入不同的检量线(校正曲线).
 16. 数据处理:
    统计值表示:平均值、标准偏差、zui大值、zui小值、上下限值范围、Cp、Cpk。
   X-R 管制图.
   柱状图:有自动设定及自己任意设定二种方式。
   可彩色打印观物显示屏上所观测之图像。
 17. 底材补正:当样品与标准片的底材不同时,可作底材补正。
 18. 观物显示屏:十字刻度线的高分辨率彩色观物显示屏。
 肆. 安全装置.
 19. 本机俱有自动安全断电系统功能.
 20. 由锁匙开关来控制X 线输出,以防止外人任意操作.
 伍. 其它机能.
 21. 密码辨识功能
 22. 装置维护调整.
 23. 测量部主机: 尺寸:362(W) ×425(D) ×486(H) ㎜.
 重量:约 44.2 Kg.
 24. 操作部:(※仅供参考)  
   计算机尺寸:180(W) ×420(D) ×360(H) ㎜.   
 重量:约 8.8 Kg.
   显示屏尺寸:360(W) ×420(D) ×370(H) ㎜.
 重量:约16.5 Kg.
   打印机尺寸:500(W) ×250(D) ×300(H) ㎜.
 重量:约 4.3 Kg.
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 柒. X-Y-Z轴可移动式测量台.
 25. 测量台尺寸及移动量.
 测量台尺寸   170 (W) ×100 (D)  ㎜
 移动量(X-Y-Z轴)  70 ×70 ×50 ㎜.
 26. 测量样品限制.
 样品限制高度:  45㎜
 样品限制重量:  3 Kg.
 捌. 使用电源.
 27. 电压: AC100V ±10V ; 50/60Hz
 (选购) AC110V, AC220V.
 28. 容量: 700V
 
 

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