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覆层测厚仪 薄膜测厚仪 手持式非导电覆盖层测量仪
型号：BXS10-TT240
涂层测厚仪概述
TT240覆层测厚仪|薄膜测厚仪是一种手持式测量仪，它能快速、无损伤、精密地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度；可广泛用于在制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域；是材料保护专业必备的仪器。
符合以下标准：
GB/T 4957-1985 涡流方法
JJG 818-93 《电涡流式测厚仪》
JB/T8393-1996磁性和涡流覆层测厚仪
涂层测厚仪功能特点
采用了涡流测厚法，可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度
（如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层）
具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
具有两种工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(APPL)
设有五个统计量：平均值、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差
可进行零点校准和二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正
具有存贮功能：可存贮350个测量值
具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据
可设置限界：对限界外的测量值能自动报警
具有打印：可打印测量值、统计值
具有与PC机通讯的功能：可将测量值、统计值传输至PC机，以便对数据进行进一步处理
具有电源欠压指示功能
操作过程有蜂鸣声提示
具有错误提示功能
具有自动关机功能
涂层测厚仪技术参数
测头类型：N
测量原理：电涡流
测量范围： 0-1250um | 0-40um(铜上镀铬)
低限分辨力：1µm(10um以下为0.1um)
探头连接方式：分体式导线连接
示值误差：
一点校准(um)：±[3%H+1.5]
两点校准(um)：±[（1%~3%）H+1.5]
测量条件：
zui小曲率半径(mm)：凸3 | 凹10
基体zui小面积的直径(mm)：ф5
zui小临界厚度(mm)：0.3
温湿度：0~40℃ | 20%RH～90%RH
统计功能：平均值、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO．）、标准偏差
工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
上下限设置：无
存储能力：350个测量值
打印/连接计算机：可选配打印机/能连接电脑
关机方式：手动和自动
电源：二节AA型碱性电池
外形尺寸：152×47×35mm
重量：370g
涂层测厚仪基本配置
主机
铝基体
标准片一套|五片
二节AA型（5号）1.5V电池
仪器保护套
使用说明书
涂层测厚仪可选附件
TA230打印机
联系方式
公司:北京北信未来电子仪器有限公司
状态:离线 发送信件 在线交谈
姓名:刘经理(先生)
职位:经理
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