F20-XT经济型高级膜厚测试仪,膜厚仪，薄膜测厚仪（北京，上海，深圳，成都，西安均有办事处提供服务）

主要用于测试各种透明半透明的膜厚.

产品简介：

1  是在F20-NIR的基础上专为测试厚膜而设计的，波长范围从1200nm到1450nm，在NIR波长分辨率为 0.5nm；
2  薄膜厚度的测量范围是：0.2～ 450um（低光学参数薄膜），0.1～160um（Si及其它半导体），精度都好于0.4%。

应用领域 :

1  微机电系统MEMS；
2  绝缘体上硅SOI；
3  倒装芯片Flip Chips；
4  厚聚合物 。