SQ-LG-1 实验室立式光学计
2017-10-09 15:35  点击:867
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本仪器是一种采用量块或标准零件与试件相比较的方式测量物体外形尺寸的仪器。主要用于五等精度量块,一级精度柱型规及各种圆柱形,球形,线形等物体的直径或板形物体的厚度的测量,对被测件作微小位移测量。亦可用来控制零件的加工。
技术参数
被测件zui大长度 180 mm
直接测量范围 ≥±0.1 mm
zui大不准确度 ±0.00025 mm
仪器体积 300×160×410 mm
仪器重量 30 kg

分划板分度值 0.001 mm
总放大倍数 1000×
测量力 (2±0.2) N
标准配件 可调带筋园台、可调园平台、带筋固定方台
平面测帽、平面测帽、小球面测帽、刃形测帽
联系方式
公司: 北京宇艾奇电子科技有限公司
状态:离线 发送信件 在线交谈
姓名:王(女士)
电话:010-60711792
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