XGT-1700WRX射线荧光光谱仪 『Horiba RoHS/ELV/WEEE分析仪』
2011-11-29 16:08  点击:1299
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测定数据

黄铜中Cd41ppm?Pb495ppm 重复测定为例

照射径Ø3mm?测定时间300秒

 Cd浓度(ppm)  Pb浓度(ppm)
 
1 37.3  509.2
 
2 41.2 488.4
 
3 40.2  492.9
 
4 46.8 486.5
 
5 43.3 482.6
 
平均值41.8 491.9
 
标准偏差 3.6 10.3
 
CV 8.5% 2.1%
无电解Ni镀层(14.3μm)中 Pb700ppm 重复测定为例

照射径Ø3mm?测定时间300秒
 Pb浓度(ppm) 膜厚(μm)
1 735.7 13.7
2 708.8 14.4
3 750  13.5
4 707.8 13.9
5 693 13
 
平均值 719.1 13.7
标准偏差 23.2  0.5
CV 3.2%  3.7%

产品性能
XGT-1700WR系列
X线照射径  Ø3mm标准 Ø1.2mm或Ø100μm (可选)

一次X线滤膜
Ø3mm照射径:4种自动切换
Ø1.2mm照射径:5元素同时分析用滤膜或无滤膜
Ø100μm照射径:无滤膜
 
二次X线滤膜
 用于金属中有害元素高灵敏度测定的标准装备
(ON/OFF自动切换)
 
X线检测器
液体氮气冷却3L
高纯度Si检测器
样品形状
zui大460×360×149mm
 
 

联系方式
公司: (未注册)