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能量色散X荧光分析仪/X荧光分析仪/能量色散X荧光检测仪 型号:HA/CIT-3000SM
适用于矿山、选矿厂、冶炼厂、水泥等企业在生产过程中对产品质量行监测;
1. HA/CIT-3000SM产品配置:
- 采用口的美AMPTEK航天术的SI(PIN)半导体探测器系列
- 采用特数字脉冲采集电路及的电源管理术
- 采用口X光管
- 采用专用的X射线压发生器
- 采用RS232串口通讯
- 采用的系统控制电路和数字处理电路
- 采用专有的分析算法软件模块V2.0A
- 配备电脑
- 配备常用的制样具
- 配备专用的压片机
- 配备专用的测试样环
- 配备专用的测试硬标样
2.HA/CIT-3000SM 术标:
- 分析元素范围:Mg-U(主要是:Mg、Al、Si、P、S、Ca、Fe、Mn、Cu、Pb、Zn、Cr、Br、Cd);
- 元素含量分析范围:1ppm -99.99%(采用1024道多道分析器,分析度);
- 采用美航天术的Si (PIN)半导体探测器计数,配合的数字脉冲处理术;
- 测量范围:1-30KeV;
- 管压:0kV-30kV(激发源为 30KV-钨靶微型X射线管);
- 管流:5μA-200μA;(可减少整机耗和降低辐射);
- 整机率:50W;
- 整机能量分辨率:150±5eV;
- 检测时间: <200S;
- 作环境温度:温度0-40℃;
- 作环境相对湿度:≤99%(不结露);
- 测量物质状态:固体、粉末均可检测,制样简单;
- 体化设计,性能稳定,运行,;操作简单,测量时间短;
北京恒奥德仪器仪表有限公司
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