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立式光学计 铝箔包装薄膜厚度光学测量仪 光学纸张厚度测量仪 圆柱球形线形物体厚度测量仪
型号BXS10-LS
本仪器通过两咱测量方式，目镜读数和投影读数，是采用量块或标准零件与试件相比较的方式测量物体外形尺寸的仪器。主要用于五精度量块，一级精度柱型规及各种圆柱形，球开，
线形等物体的直径或板形物体的厚度的测量，对被测件作微小位移测量。亦可用来控制
零件的加工，对铝箔、包装薄膜、纸张等厚度测量，用于大专院校、计量测试部门等企
业。
北京北信科仪分析仪器有限公司
地址：北京市昌平区西三旗泰华龙旗广场2号楼1516室
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