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方块电阻测试仪导体材料导电薄膜电阻检测仪半导体薄层电阻测定仪表面电阻测量仪方块电阻量值检测仪
型号DL10-ST-21
DL10-ST-21型方块电阻测试仪是一种依照类似的标准和美国A.S.T.M标准，专门测量半导体薄层电阻(表面电阻)的仪器，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
该仪器以大规模集成电路为主要核心；用基准电源和运算放大器组成稳流源；带回路有效正常指示电路；并配以大型LCD显示读数，使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点。
特点：
1采用大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定，低功耗；
2以大屏幕LCD显示读数，直观清晰；
3采用单个电池供电，带电池欠压指示；
4体积≤175mmX90mmX42mm，重量≤300g；
5特制之手握式探笔，球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜
6探头带抗静电模块
技术指标：
测量范围按方块电阻量值大小分为二个量程档：
1.方块电阻1.00～199.99Ω/□；
2.方块电阻10.0～1999.9Ω/□；
恒流源测量过程误差：≤±0.8%
模数转换器量程：0～199.99mv；
分辨率：10μv；
方式：LCD大屏幕显示；性，超量程均自动显示；小数点同步显示；
测量不确定度在整个量程范围内，测量不确定度≤5%
四探针探头规格间距：1mm、1.59mm、3.8mm；偏差≤2%；游移率≤0.3%；缘电阻≥500MΩ
电源9V叠层电池1节
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DL10-ST-21方块电阻测试仪可选配HP系列四探针探头的型号及规格：
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DL10-ST-21方块电阻测试仪可选配SP-601型方型四探针探头的型号及规格：
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北京北信科仪分析仪器有限公司
地址：北京市昌平区西三旗泰华龙旗广场2号楼1516室
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