便携式X荧光分析仪 型号：CIT3000SMP

主要技术指标 
1、仪器测量对象：各种有色、黑色金属粉、金属矿粉、烧结矿、球团矿、炉渣，各种非金属矿、硅酸盐矿物、多种合金等； 
2、分析范围：S-U（主要为K、Ca、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Pb、Zn、Cu、Ni、Mo、Sn、Sb、As、Ag等）； 
3、分辨率优于155ev； 
4、仪器稳定性好，8小时连续测定RSD≤0.25％； 
5、温度系数≤0.0004/℃工作环境温度-10～45℃； 
6、仪器分析精度：标准偏差≤0.08%（按连续12次分析同一样品所得数据进行统计）； 
7、仪器分析精度：本仪器对各种有色金属矿石、粉末，多种合金、烧结矿、球团、各种非金属矿等对象元素含量的重复测量精度均达到相应标准要求； 
8、分时间小于180秒； 
9、整机功耗：8W； 
10、整机重量：1.75Kg；