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| 离子迁移普仪 型号：SDL-IMS |
货号：ZH4103 |
| 产品简介: 是一种用来探测空气中痕量物质的方法，被检测的样品蒸气或微粒离化形成离子，然后让离子在弱电场中产生漂移，并测量出离子通过电场所用的时间，进而根据离子所用的漂移时间可以计算出离子的迁移率（迁移率的定义是指在单位电场强度作用下离子的漂移速度）由于在的条件下，物质离子的迁移率互不相同，因而也就导致不同的离子通过电场的漂移时间不相同。这样，我们就可以根据漂移时间的测量来间接达到对样品的分离和检测，IMS检测和已经发展成熟的飞行时间质谱分析有些类似，不过，IMS不像质谱分析那样工作在高真空条件下进行检测，而是工作在大气环境气压条件下，这是IMS检测的一个特点，尽管IMS工作在大气环境气压下，它的探测灵敏度仍然很高，可以达到（10-8—10-14）g，和质谱分析以及其他一些检测相比，IMS有着诸如仪器简单、体积小、重量轻、功耗低和分析时间快等许多优点，对行业所关注的化合物的分析起着重要的作用! 参数： 电离源：氚(氢的放射性同位素，beta放射器)，活动50 MBq zui低检出限：1ppb 耗电量：无加热单元多20W；带加热单元和解吸室多48w 电池寿命：自动运行状态下大约4-6小时 显示：数字式 4×40位 通信：RS232串行接口 运行温度：－１０℃到８０℃ 尺寸：由实际需要所定 重量：约８ｋｇ（包括电池） www.centrwin.com www.ghitest.com |