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AB204-S梅特勒分析天平
梅特勒分析天平AB204-S产品的主要特点:
采用单模块传感器技术，具有紧凑而坚固的结构和良好抗过载、抗冲击性能
采用温度漂移及时间设置触发的全自动校准技术（FACT），有效消除环境温度变化对称量结果精确性的影响
采用亮背景液晶显示屏，方便用户在不同称量环境下读取称量结果
金属铸铝制成的防化防撞击机架，保证天平的长期使用
标配机架塑料保护罩，实现天平的快速清洁
可拆卸防风罩设计，避免散料样品的腐蚀
内置RS232通讯接口，方便连接打印机、电脑等外围设备
具有简单称量、百分比称量、计件称量和动态称量等内置应用程序
梅特勒分析天平AB204-S产品的主要技术参数:
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可读性
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0.1mg
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zui大称量值
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220g
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重复性（s）
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0.1mg
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线性
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±0.2mg
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秤盘尺寸（mm）
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Φ80
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防风罩有效高度（mm）
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237
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外形尺寸（W×D×H）（mm）
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245×321×344
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