发送询价
快速升降温试验箱JW-T-150A
执 行 标 准：
标准分为强制性国标（GB）
和推荐性国标（GB/T）
标准,GB 10592-89高、低温试验箱技术条件
标准,GB/T10589-1989低温试验箱技术条件
电工委员会标准,IEC68-2-01_试验方法A_冷
美国军用标准,MIL-STD-810F-501.4 高温
美国军用标准,MIL-STD-810F-502.4 低温
美国军用标准,MIL-STD810D方法502.2
美国军用标准,MIL-STD810方法507.2程序3
日本工业标准,JIS C60068-2-2-1995 试验B:干热
日本工业标准,JIS C60068-2-1-1995 试验A:低温
美国半导体行业标准,JESD22-A103-C-2004 高温储存试验
美国半导体行业标准,JESD22-A119-2004 低温储存试验
标准,GB/T 2423.1-2001 低温
标准,GB/T 2423.2-2001 高温
标准,GB/T2423.4-93方法
标准,GB 10592-89高、低温试验箱技术条件
标准,GB/T10589-1989低温试验箱技术条件
电工委员会标准,IEC68-2-01_试验方法A_冷
美国军用标准,MIL-STD-810F-501.4 高温
美国军用标准,MIL-STD-810F-502.4 低温
美国军用标准,MIL-STD810D方法502.2
美国军用标准,MIL-STD810方法507.2程序3
日本工业标准,JIS C60068-2-2-1995 试验B:干热
日本工业标准,JIS C60068-2-1-1995 试验A:低温
美国半导体行业标准,JESD22-A103-C-2004 高温储存试验
美国半导体行业标准,JESD22-A119-2004 低温储存试验
标准,GB/T 2423.1-2001 低温
标准,GB/T 2423.2-2001 高温
标准,GB/T2423.4-93方法
舰船电子设备环境试验， GJB4-2-83 高温试验
舰船电子设备环境试验， GJB4-3-83 低温试验
舰船电子设备环境试验， GJB4-4-83 低温储存试验
舰船电子设备环境试验， GJB4-3-83 低温试验
舰船电子设备环境试验， GJB4-4-83 低温储存试验
满足标准：GB/T5170.2-1996 温度试验设备
满足标准：GB-T10589-2008 高低温箱技术条件
|
型号
|
JW-T-80A
|
JW-T-150A
|
JW-T-22
|
JW-T-408A
|
JW-T-1000A
|
|
容积(L)
|
80
|
150
|
225
|
408
|
1000
|
|
内尺寸cm(W*H*D)
|
40×50×40
|
50×60×50
|
50×75×60
|
100×100×800
|
100×100×100
|
|
温度范围
|
-20℃～+150℃
|
||||
|
温度波动度
|
±0.5℃
|
||||
|
温度均匀度
|
±2℃
|
||||
|
升温时间
|
-20℃～+150℃,(平均3℃/min),可根据要求订做不同升温速率
|
||||
|
降温时间
|
+80℃～-150℃,(平均3℃/min),可根据要求订做不同降温速率
|
||||
|
加热器
|
镍铬合金电热丝加热器
|
||||
|
鼓风机
|
离心鼓风机
|
||||
|
气流方式
|
宽带式强迫气流循环（上出下进）
|
||||
|
冷凝方式
|
风冷或水冷
|
||||
|
保温材料
|
硬质聚氨酯发泡保温
|
||||
|
控制器
|
高度可程序原装进口触摸屏彩色控制器，日本OYO控制器
|
||||
|
冷冻系统
|
法国“泰康”全封闭压缩机/环保冷媒
|
||||
|
保护装置
|
压缩机过热、过流、超压、加热空禁、箱内超温报警系统
|
||||
|
电源
|
AC 3￠5W 380V(三相四线+接地保护）
|
||||
|
标准配置
|
观察窗（双层中空钢化玻璃），测试导线孔，式样架两套（高度可调），箱内照明灯（荧光灯）一个，安装移动工作轮四个
|
||||
|
选配件
|
记录仪，通讯接口，内置玻璃门或操作孔
|
||||
|
工作环境温度
|
+5℃～+35℃
|
||||
备注：本公司可根据用户需求批量生产非标准产品。
销售热线：； ； ；, 周经理 王经理
网址：www.juweichina,com 邮箱：jiejizh@126.com 。