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快速升降温试验箱JW-T-150A
执 行 标 准:
标准分为强制性国标(GB)
和推荐性国标(GB/T)
标准,GB 10592-89高、低温试验箱技术条件
标准,GB/T10589-1989低温试验箱技术条件
电工委员会标准,IEC68-2-01_试验方法A_冷
美国军用标准,MIL-STD-810F-501.4 高温
美国军用标准,MIL-STD-810F-502.4 低温
美国军用标准,MIL-STD810D方法502.2
美国军用标准,MIL-STD810方法507.2程序3
日本工业标准,JIS C60068-2-2-1995 试验B:干热
日本工业标准,JIS C60068-2-1-1995 试验A:低温
美国半导体行业标准,JESD22-A103-C-2004 高温储存试验
美国半导体行业标准,JESD22-A119-2004 低温储存试验
标准,GB/T 2423.1-2001 低温
标准,GB/T 2423.2-2001 高温
标准,GB/T2423.4-93方法
标准,GB 10592-89高、低温试验箱技术条件
标准,GB/T10589-1989低温试验箱技术条件
电工委员会标准,IEC68-2-01_试验方法A_冷
美国军用标准,MIL-STD-810F-501.4 高温
美国军用标准,MIL-STD-810F-502.4 低温
美国军用标准,MIL-STD810D方法502.2
美国军用标准,MIL-STD810方法507.2程序3
日本工业标准,JIS C60068-2-2-1995 试验B:干热
日本工业标准,JIS C60068-2-1-1995 试验A:低温
美国半导体行业标准,JESD22-A103-C-2004 高温储存试验
美国半导体行业标准,JESD22-A119-2004 低温储存试验
标准,GB/T 2423.1-2001 低温
标准,GB/T 2423.2-2001 高温
标准,GB/T2423.4-93方法
舰船电子设备环境试验, GJB4-2-83 高温试验
舰船电子设备环境试验, GJB4-3-83 低温试验
舰船电子设备环境试验, GJB4-4-83 低温储存试验
舰船电子设备环境试验, GJB4-3-83 低温试验
舰船电子设备环境试验, GJB4-4-83 低温储存试验
满足标准:GB/T5170.2-1996 温度试验设备
满足标准:GB-T10589-2008 高低温箱技术条件
型号
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JW-T-80A
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JW-T-150A
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JW-T-22
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JW-T-408A
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JW-T-1000A
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容积(L)
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80
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150
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225
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408
|
1000
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内尺寸cm(W*H*D)
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40×50×40
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50×60×50
|
50×75×60
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100×100×800
|
100×100×100
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温度范围
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-20℃~+150℃
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温度波动度
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±0.5℃
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温度均匀度
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±2℃
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升温时间
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-20℃~+150℃,(平均3℃/min),可根据要求订做不同升温速率
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降温时间
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+80℃~-150℃,(平均3℃/min),可根据要求订做不同降温速率
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加热器
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镍铬合金电热丝加热器
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鼓风机
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离心鼓风机
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气流方式
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宽带式强迫气流循环(上出下进)
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冷凝方式
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风冷或水冷
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保温材料
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硬质聚氨酯发泡保温
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控制器
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高度可程序原装进口触摸屏彩色控制器,日本OYO控制器
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冷冻系统
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法国“泰康”全封闭压缩机/环保冷媒
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保护装置
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压缩机过热、过流、超压、加热空禁、箱内超温报警系统
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电源
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AC 3¢5W 380V(三相四线+接地保护)
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标准配置
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观察窗(双层中空钢化玻璃),测试导线孔,式样架两套(高度可调),箱内照明灯(荧光灯)一个,安装移动工作轮四个
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选配件
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记录仪,通讯接口,内置玻璃门或操作孔
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工作环境温度
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+5℃~+35℃
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备注:本公司可根据用户需求批量生产非标准产品。
销售热线:; ; ;, 周经理 王经理
网址:www.juweichina,com 邮箱:jiejizh@126.com 。