WBLE-200J WBLE-200J电磁式薄膜测厚仪/膜厚计 日本
2018-04-17 17:47  点击:1462
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电磁式薄膜测厚仪/膜厚计 日本
型号:WBLE-200J
货号:ZH6918

 本仪器采用了磁性测厚方法,可的测量磁性金属基体(如铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆层的厚度(如铜、铝、铬、珐琅、橡胶、油漆等)。 内置打印机,可打印数据,有四个统计功能。
测定方法:电磁式
测定对象:磁性金属上非磁性涂镀层
测定范围:0~1500um或0~60.0mils
测定精度:<15um±0.3um   >15um±2%
分辨率:<100um 0.1um    >100um 1um
界限设定:可设定上/下限数值
测试单位:公/英制互换
显示方式:LCD数显
操作面板:密封水按键
附属品:铁基体/校正标准片/电池/皮套/说明书
电源:DV3V 主机5#碱性电池×6个 打印机5#碱性电池×4个
体积:80(W)×80(D)×30(H)
重量:1100g
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