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数显薄膜测厚仪/薄膜测厚仪
型号：HAD-CH-12.7-STSX
分度值：0.001mm
测量范围及度：0mm～12.7mm，≤0.005mm
适用于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定（zui大测量深度为80mm）
GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979
HAD-CH-12.7-STSX 数显薄膜测厚仪 薄膜测厚仪
2019-09-27 13:44 点击:644
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