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涡流涂层测厚仪产品型号：XRS-LY-LWF-200
一、概述
XRS-LY-LWF-200型采用磁性、涡流两种测厚方法，可无损伤地检测磁性金属基铁（如：铁、钢、合金和硬磁性钢等）上非磁性覆层的厚度（如：锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等）及非磁性金属基体（如铜、铝、锌、锡等）上非导电覆层的厚度（如：橡胶、油漆、塑料、阳氧化膜等）。本仪器广泛地应用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。
1 ）本仪器符合以下标准
GB/T 4956-1985 磁性金属基体上非磁性覆层厚度的测量（磁性方法）
GB/T 4957-1985 非磁性金属基体上非导电覆层厚度的测量（涡流方法）
JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测厚仪
2 ）特点
便携设计，手掌大小
采用高速的DSP芯片，具有快速的测量能力
人性化设计，简单操作。
在双用探头时自动识别铁基和非铁基材质，无需手动转换
两种校准方式，零点校准和二点校准
宽角度LCD液晶显示
公制和英制单位转换
具有电源欠电压提示
操作过程有蜂鸣声提示
具有自动关机功能
3) 测量原理
a)磁性法
当测头与覆层接触时，测头与磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆层的存在，使磁路磁阻发生变化，通过测量其变化量，可测得其覆层的厚度。
b)涡流法
利用高频交变电流线圈中产生一磁场，当测头与金属接触时，金属基体上会产生涡流，并对测头具有反馈作用，通过其反馈作用的大小可测出覆层厚度。
二、技术参数
● 测量范围：0-1200um
● 工作电源：两节五号电池
● 测量精误差：零点校准 ±（1.5+3%H）；二点校准±【（1%～3%H）】H+1.5
● 公英制转换：um/mil转换
● 分辨率：0.1um/1um（100um以下为0.1um）
● 环境温度-10-40℃
● 相对湿度≤85%
● zui小基体10*10mm
● zui小曲率凸5mm;凹5mm
● 薄基体：0.4mm
● 重量：99克（含电池）
● 尺寸102mm*66mm*24mm
北京西润斯仪器仪表有限公司
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