LP-3型手持式四探针测试仪的技术参数：
1. 测量范围、分辨率
电 阻: 0.010 ～ 50.00kΩ, 分辨率0.001 ～ 10 Ω
电 阻 率: 0.010～ 20.00kΩ-cm，分辨率0.001 ～ 10 Ω-cm
方块电阻: 0.050～ 100.0kΩ/□ 分辨率0.001 ～ 10 Ω/□
2. 可测材料尺寸
手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台决定如下：
直 径：SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm。
SZT-C方测试台直接测试方式180mm×180mm。
长(高)度：测试台直接测试方式 H≤100mm。.
测量方位: 轴向、径向均可.
3. 量程划分及误差等级
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量程（Ω-cm/□） |
2.000 |
20.00 |
200.0 |
2.000k |
20.00k |
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电阻测试范围 |
0.010～2.200 |
2.000～22.00 |
20.00～220.0 |
0.200～2.200k |
2.000～50.00k |
|
电阻率/方阻 |
0.010/0.050～2.200 |
2.000～22.00 |
20.00～220.0 |
0.200～2.200k |
2.000～20.00k |
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基本误差 |
±1%FSB±2LSB |
±2%FSB±2LSB |
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4) 适配器工作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或电池供电
5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm
净 重：≤0.3kg
LP-3型手持式四探针测试仪功能特性：
具有零位、满度自校功能；
仪器所有参数设定、功能转换全部采用轻触按键输入；
测试结果由数字表头直接显示；
手动/自动转换量程可选；
采用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！
LP-3型手持式四探针测试仪探头选配：
1.球形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。
2.高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；
3.换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量；
4.配专用探头，也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。
LP-3型手持式四探针测试仪适用场所：
适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。