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数显薄膜测厚仪/薄膜测厚仪 型号：TD-CH-12.7-STSX
分度值：0.001mm
测量范围及准确度：0mm～12.7mm，≤0.005mm
适用于实验室对塑料薄膜和薄片试样厚度的测定(zui大测量深度为80mm)
GB/T6672-1986 MOD ISO 4593-1979
TC-004095 数显薄膜测厚仪/薄膜测厚仪
2020-03-14 13:48 点击:1339
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