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法国Phasics公司研发“多距离干涉仪”创新技术的高分辨率波前分析仪，其应用在光学测量学中（光学特性和表面分析系统）；也应用在激光测量学中（分析仪和相适应的光学环）；同样应用在生物领域（成像相位）等。
该波前传感器通过对160×120取样点的测量，可以给出相位和强度的分布图，并可提供的激光束分析功能。
特点：
高分辨率（400×300的测量点阵）
消色差测量
高动态范围
高灵敏度
设计简洁紧凑
高
测量可重复性高
波前探测技术具有直接测量光路系统像差的能力，并且无需额外的过渡镜。探测器可以测量波前传输时球面波的偏差。即使有大的光束偏差（如数值孔径高达0.75），仍然可以做到光路系统与探测器间不使用过渡镜就能测试。SID4探测器为光学测量配置了专用的Kaleo软件。该软件允许在一次测量中提供完整的测量项目的光学量值特征：像差，PSF，MTF，有效焦距等。定制的特征报告也可编辑。