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数显电子水平仪/电子水平仪/水平仪/数显水平仪 型号:QS36-SDS9
型号
QS36-SDS9
分度值 I=0.01毫米/米
主要技术指标
1、显示范围:
0-±1999数字
2、测量范围:
≤±500数字
3、示值误差:
≤±(1+A/50)
外形尺寸: 150*47*170
注:A为受检点标称值的值(数
用途 适合"1"级以下平面度、直线度的检定及机床等安装、水平调整。
(配锂电池2节)
一、 结构特征
二、概述
ST2258C型多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T 《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。
仪器成套组成:由主机、选配的四探针探头、测试台等部分组成。
主机主要由恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入;具有零位、满度自校功能;电压电流全自动转换量程;测试结果由数字表头直接显示。本测试仪特赠设测试结果分类功能,zui大分类10类。
探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头,也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。
测试台选配:一般四探针法测试电阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选SZT-K型测试台,也可选配SZT-D型测试台以测试半导体粉末电阻率,选配SZT-G型测试台测试橡塑材料电阻率。详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》
仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
仪器成套组成:由主机、选配的四探针探头、测试台等部分组成。
主机主要由恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统组成。仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入;具有零位、满度自校功能;电压电流全自动转换量程;测试结果由数字表头直接显示。本测试仪特赠设测试结果分类功能,zui大分类10类。
探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配专用探头,也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。
测试台选配:一般四探针法测试电阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型测试台。二探针法测试电阻率测试选SZT-K型测试台,也可选配SZT-D型测试台以测试半导体粉末电阻率,选配SZT-G型测试台测试橡塑材料电阻率。详见《四探针仪器、探头和测试台的特点与选型参考》
仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。
仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。
三、基本技术参数
1. 测量范围、分辨率(括号内为可向下拓展1个数量级)
电 阻:10.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω, 分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×103 Ω
(1.0×10-6 ~ 20.00×103 Ω, 分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω)
电 阻 率:10.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω-cm 分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×103 Ω-cm
(1.0×10-6 ~ 20.00×103 Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω-cm)
方块电阻:50.0×10-6 ~ 1.0×106 Ω/□ 分辨率5.0×10-6 ~ 0.5×103 Ω/□
(5.0×10-6 ~ 100.0×103 Ω/□ 分辨率0.5×10-6 ~ 0.1×103 Ω/□)
2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)
直 径: SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15~130mm,手持方式不限
SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm,手持方式不限.
长(高)度: 测试台直接测试方式 H≤100mm, 手持方式不限.
测量方位: 轴向、径向均可
3. 量程划分及误差等级
电 阻:10.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω, 分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×103 Ω
(1.0×10-6 ~ 20.00×103 Ω, 分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω)
电 阻 率:10.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω-cm 分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×103 Ω-cm
(1.0×10-6 ~ 20.00×103 Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω-cm)
方块电阻:50.0×10-6 ~ 1.0×106 Ω/□ 分辨率5.0×10-6 ~ 0.5×103 Ω/□
(5.0×10-6 ~ 100.0×103 Ω/□ 分辨率0.5×10-6 ~ 0.1×103 Ω/□)
2. 材料尺寸(由选配测试台和测试方式决定)
直 径: SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15~130mm,手持方式不限
SZT-B/C/F方测试台直接测试方式180mm×180mm,手持方式不限.
长(高)度: 测试台直接测试方式 H≤100mm, 手持方式不限.
测量方位: 轴向、径向均可
3. 量程划分及误差等级
满度显示
|
200.0
|
20.00
|
2.000
|
200.0
|
20.00
|
2.000
|
200.0
|
20.00
|
2.000
|
常规量程
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kΩ-cm/□
|
kΩ-cm/□
|
Ω-cm/□
|
mΩ-cm/□
|
---
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zui大拓展量程
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---
|
kΩ-cm/□
|
Ω-cm/□
|
mΩ-cm/□
|
mΩ-cm/□
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基本误差
|
±2%FSB
±4LSB
|
±1.5%FSB
±4LSB
|
±0.5%FSB±2LSB
|
±0.5%FSB
±4LSB
|
±1.0%FSB
±4LSB
|
4.工作电源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W
5.外形尺寸: 245mm(长)×220 mm(宽)×95mm(高)
净 重:≤1.5~2.0kg
北京润恒奥仪器仪表设备有限公司5.外形尺寸: 245mm(长)×220 mm(宽)×95mm(高)
净 重:≤1.5~2.0kg
型号 |
IHT400 |
IHT600 |
IHT800 |
IHT900 |
IHT900+ |
IHT900+S |
IHT GL |
IHT GL+ |
测试温度 |
-32-400℃ |
-32-600℃ |
-32-800℃ |
-32-900℃ |
150-1800℃ |
|||
精度 |
2% |
1% |
1% |
1% |
1% |
|||
距离系数比 |
10:1 |
30:1 |
50:1 |
50:1 |
50:1 |
|||
发射率 |
0.95 |
可调 |
可调 |
可调 |
可调 |
|||
光谱范围 |
8-14μm |
8-14μm |
8-14μm |
8-14μm |
5.14μm |
|||
重复性 |
1% |
0.5% |
0.5% |
0.5% |
0.5% |
|||
响应时间 |
300ms |
300ms |
300ms |
150ms |
150ms |
|||
环境温度 |
0-55℃ |
0-55℃ |
0-55℃ |
0-55℃ |
0-55℃ |
|||
电源 |
9V电池 |
9V电池 |
9V电池 |
9V电池 |
9V电池 |
|||
重量 |
300g |
320g |
340g |
340g |
340g |
|||
zui大/小值,均值,差值显示 |
√ |
√ |
√ |
√ |
√ |
√ |
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视/听高温报警 |
√ |
√ |
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RS-232接口 |
√ |
√ |
√ |
√ |
√ |
|||
数据输出(1mV/℃) |
√ |
√ |
||||||
数据存储 |
20个点 |
250个点 |
250个点 |
250个点 |
||||
显示保持 |
√ |
√ |
√ |
√ |
√ |
√ |
√ |
√ |
LCD自动背景光显示 |
√ |
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邮箱:rha@163.com
网址:www..com
:周经理
地址:北京市门头沟区石龙经济开发区永安路20号石龙高科大厦