RHA-XTJ-STC-A 薄膜测厚仪
2018-01-11 13:53  点击:575
价格:未填
品牌:611
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薄膜测厚仪型号:RHA-XTJ-STC-A

产品功能
本测厚仪适应于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度。本测厚仪执行GB/T6672-2001标准。
产品参数
Ø 分度值 0.001mm 量程 0-1mm
Ø 上下测量面为平面时,测量面地试样硬设备听负荷为0.5N到1.0N之间。
Ø 上下测量面为凸/平面时,上测量面的曲率半径在15-50mm时,其测量面对试样施加的负荷为0.1N到0.5N之间.
Ø 测量精度 100um以内 精度1um
100um到250um 精度2um
250um以上 精度3um
使用方法
Ø 测试前转动表盘让指针调到零位,并试行按动捍手几次,回零后方可测试。
Ø 使用时按下捏手使测头升起,将被测物件放于上下测头之间。轻放捏手使之接触,此时读数即为衩测试样的厚度。
Ø 为使测试准确,可在同一被测物的不同位置进行测量,取其平均值。
Ø 使用完毕,应将仪器擦净,装入仪器盒,放置干燥处,防止受潮。







光拍法光速测量仪 光速测量仪 型号:RHA-LB-LM2000C

物理内容丰富:
(1)采用高频声光器件,利用声光频移效应产生150MHz的拍频波,用示波器测量近程光与远程的相位差求得拍频波的波长,进而测得光的传播速度,即“光拍法”。
(2)声光法测量透明介质中的声速。
2π连续移相:
拍频波长2m,二根带刻度尺导轨, 可0—2π无级连续移相,在移相中有两个同相位点,2π移相可信,物理内容十分明显。可实现0°~ 360°内任意相位点测量,做出误差随测量相点不同而变化的误差分布曲线。连续移相过程中拍频波波幅变化不大于5%。光速测量误差≤ 0.5%
实验内容可易可难:
所有部件既可开放调节,也可锁死稳定不变。可根据教学要求分级开放调节部件的数量。
体积小巧精致:
铸铝平台结构抗振动,光学零件全部装在平台上,一目了然,整机尺寸为:≤0.8m×0.3m









电子分析天平 型号;RHA-FA2104N

称量范围:0-210g
zui小读数:0.1mg
秤盘尺寸:Φ80mm
输出接口:RS232C
外形尺寸:356mm×330mm×215mm
电源及功耗:AC220V50Hz
去皮、校准、自动故障检测、超载报警等功能
电磁式称量传感器,外置式变压器,柔和的背光显示
产品提供计数、百分比、单位转换、下称等多种应用
全自动内校型更能提供方便


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