·快速、的椭偏测量与分析
·光谱范围宽达300nm-930nm
·步进扫描分析器(SSA)测量模式,提高信噪比
·宽带超消色差补偿器,用于去化效应修正
·起偏器跟踪技术,计算机控制起偏器角度
·SpectraRay II-功能强大的光谱椭偏测量与分析软件
·对和初学者同样易于操作
·SENTECH专有的材料数据库和样品应用程序,方便有效地建模
·SpectraRay复杂软件光谱椭偏分析包含复杂多角度、多样品数据分析,可编程用户接口和的报告
光谱范围: |
300 nm - 930 nm UV-VIS |
光滑样品表面 |
样品尺寸: |
可放置156 x 156 mm,200 x 200 mm电池片,或其它尺寸 |
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衬底: |
透明、半透明,非透明衬底 |
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光学和机械部分: |
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椭偏操作原理: |
结合PSA 和 PCSA 二种模式: |
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光源: |
稳定75W 氙弧灯提供UV/VIS光谱 |
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起偏器 / 分析器: |
UV Glan Thompson 晶体 |
计算机控制检偏器和起偏器 |
消光比: |
10-6 |
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测量光斑: |
手动可调直径范围1 mm -- 4 mm |
选件:200 μ 微光斑 |
探测系统 |
高灵敏度CCD |
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样品台: |
高度和水平调整 |
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样品对准: |
自动对准显微镜和光学显微镜适用于的样品对准(聚焦和水平调整) |
选件: |
测量时间: |
ψ / Δ 谱: |
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控制器: |
模块化单元带桌面椭偏光学透镜和量角器 |
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计算机: |
HP台式PC机, |
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功率需求: |
额定电压:115/230 VAC |
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环境: |
普通光学实验室环境,也可用于百级洁净室,不引入污染 |
数据采集和分析软件: |
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光谱测量 |
SPECTRARAY II操作与分析软件包括: · 系统校准 · 自动设置光学组件 · 手动执行用户定义的任务 · 光谱以标准能量(波数、电子伏特)或者波长单位显示 · 样品响应的逼真监视,在线的ψ和△表述 |
数据处理: |
·SPECTRARAY II包括GRAMS软件包,可操作FT-IR系统和处理光谱数据 |
·输入/输出:ASCII,CSV,SPC,其他光谱设备 |
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文件管理功能: |
软件基于Windows XP平台,提供的文件管理功能 |
用户定义界面: |
基于易用的源程序代码,用户可方便地定义测量、操作界面 |
Accuracy / performance度/性能 |
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度: |
δ(Psi): 0.02 ° |