概述      MHY-05090型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美 A.S.T.M 标准。

      成套组成：由MHY-05090主机、选配的四探针探头等二分组成，也可加配测试台。

仪器所有参数设定、能转换采用轻触按键输入；具有零位、满度自校能；手动/自动转换量程可选；测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电，适合手持式变动场合操作使用！

      探头选配：根据不同材料特性需要，探头可有多款选配。有耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；也有形镀金铜合金探针探头，可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻行测量。配专用探头，也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。

      

仪器具有测量度、灵敏度、稳定性好、智能化程度、结构紧凑、使用简便等特点。

仪器适用于半导体材料厂、器件厂、科研单位、等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。 

三、基本术参数1. 测量范围、分辨率

    电    阻:   0.010 ～ 50.00kΩ,     分辨率0.001 ～ 10 Ω

    电 阻 率:   0.010～ 20.00kΩ-cm，分辨率0.001 ～ 10 Ω-cm

    方块电阻:   0.050～ 100.0kΩ/□   分辨率0.001 ～ 10 Ω/□ 

2. 可测材料尺寸

   手持方式不限材料尺寸，但加配测试台则由选配测试台决定如下：

    直    径：DP-A圆测试台直接测试方式 Φ15～130mm。

    DP-C方测试台直接测试方式180mm×180mm。

    长()度：测试台直接测试方式 H≤100mm。.

    测量方位: 轴向、径向均可.

3. 量程划分及误差等

量程（Ω-cm/□） 2.000 20.00 200.0 2.000k 20.00k 

电阻测试范围 0.010～2.200 2.000～22.00 20.00～220.0 0.200～2.200k 2.000～50.00k 

电阻率/方阻 0.010/0.050～2.200 2.000～22.00 20.00～220.0 0.200～2.200k 2.000～20.00k 

基本误差 ±1%FSB±2LSB ±2%FSB±2LSB 

4) 适配器作电源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤5W，或电池供电

5) 外形尺寸：W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

净   重：≤0.3kg