利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。
X-Strata镀层测厚仪是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。
镀层测厚仪X-Strata系列提供：
无损分析：无需样品制备
经行业认证的技术和可靠性
操作简单，只需要简单的培训
分析只需三步骤
杰出的分析准确性和性
在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验
镀层测厚仪X-Strata系列使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量，保证质量的同时降低成本。
X-Strata系列基于Windows2000中文视窗系统的中文版 Smartlink FP 应用软件包，实现了对CMI900/920主机的自动化控制。
产品：
高性能、、长期稳定性
● 快速的分析带来生产成本优化
● 测定元素厚度
● 优化的性能可满足广泛的元素测量
坚固耐用的设计
● 可靠近生产线或在实验室操作
● 生产人员易于使用
简单的校准调试
● 在没有标准片时，经验系数法或基本参数法可以提供简单可靠的定量结果
● 方法建立只需几分钟
● 我们提供认证标准片以确保准确度（A2LA 和 ISO/IEC17025）
● 预置了多种校准参数
可分析多种样品形状和尺寸
● 可分析多种样品类型，从微小的电子元件到浴室配件
● 提供多种硬件供选配，满足各种需要
行业及市场
电子行业 - 有效控制生产过程，提高生产力
● 分析电子件上的金和钯的厚度，例如Au/Ni/Cu，Au/Pd/Ni/Cu
● 测量线路板上的可焊性，比如Ag/Cu/Epoxy
五金电镀行业 - 电镀表面处理的成本降低，产量增大
● 多样品和多点分析
● 单层或多层厚度测量
● 镀液成份分析
贵金属/金属合金 - 珠宝及其他合金的快速无损分析
● 分析及其他元素测定
● 贵金属合金检测
一致性检测 - 确保产品符合规格
● 测定有害物质从ppm级到高百分比级
● 有毒元素定量分析，例如检测镉、汞、铅等含量是否符合规定
● 按照IEC62321进行RoHS筛选
● 对航空焊料可靠性鉴定进行高可靠检测
新能源行业 - 确保产品有效一致
● 光电池薄膜吸收层（如CIS, CIGS, CdTe）的成份分析
● 通过镀层厚度分析优化导电性
技术参数：
CMI 900 X-射线荧光镀层厚度测量仪,在技术上一直以来都于测厚行业
A CMI 900 能够测量包含原子序号22至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,薄的浸液镀层
（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定多达5层、15 种元素。
B ：度：数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求 ；
如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。
D ：统计功能提供数据平均值、误差分析、大值、小值、数据变动范围、相对偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。
CMI900/920系列X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；
E ：可测量任一测量点，可达0.025 x 0.051毫米
样品台选择：
CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选用，分别为：
一：手动样品台
1 标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
2 扩展型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
3 可调高度型标准样品台：XY轴手动控制、Z轴自动控制。
二：自动样品台
1 程控样品台：XYZ轴自动控制。
2 超宽程控样品台：XYZ轴自动控制。
CMI920系列采用开闭式样品室，以方便测定各种形状、各种规格的样品。如右下图所示。同样，CMI920可提供四种规格的样品台供用户选用，分别为：
1 全程控样品台：XYZ 三轴程序控制样品台，可接纳的样品高度为150mm，XY 轴程控移动范围为 300mm x 300mm。 此样品台可实现测定点自动编程控制。
2 Z轴程控样品台：XY轴手动控制，Z轴自动控制，可接纳的样品高度为270mm。
3 全手动样品台：XYZ三轴手动控制，可接纳的样品高度为356mm。
可扩展式样品台用于接纳尺寸样品。