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YI-6000B数字IC测试仪 数字IC测试仪 特点
循环测试
自动搜寻
自我诊断
过载保护
测量1800种设备
支持54/74系列TTL
支持4000和5000系列CMOS
测试管脚:28 pin
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YI-6000B是一款台式数字IC测试仪。可测试1800多种常见的TTL和CMOS器件,真正在数字IC测试领域实现一个机型测量所有器件的解决方案。
数字IC测试仪
测试范围
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54/74 系列 TTL
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4000 及 4500 系列 CMOS
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DRIVE
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量测种类
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约 1800 种
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测试电压
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2.5/3.0/3.3/5V DC
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测试时间
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高测试速度,平均 0.6 秒可完成一个 IC
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使用电源
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交流 100V~240V +10%, 50/60Hz
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尺寸及重量
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335(宽) x 105(高) x 300(长) mm
约 1.5 公斤 |