海尔帕 HPS2663四探针测试仪
HPS2663四探针测试仪，可根据不同材料特性需要，有多种测试探头可供选择。有高耐磨碳化钨探针探头，以测试硅类半导体、石墨烯、热敏材料、金属、导电塑料等硬质材料的电阻率和方阻；也有球形镀金铜合金探针探头，可测试柔性材料导电薄膜、PE膜、电容卷积膜、金属箔、金属涂层或者碳纸、薄膜、陶瓷、玻璃基底上导电膜（ITO膜）、锂电池电池电片、氢燃料电池电片或纳米涂层等半导体材料的电阻率和方阻。仪器适用于半导体材料厂、高等院校和科研单位对导体、半导体材料导电性能的测量。
海尔帕 HPS2663四探针测试仪 性能特征
液晶人性化操作界面
多种测量参数可选
测量数据自动保持功能
超快测量并显示读数
量程有自动和手动双模式
档号显示及档计数功能
兼容多种材料测量
专业的通讯接口可以与PC进行数据通讯及对仪器的远程控制
海尔帕 HPS2663四探针测试仪 产品应用
硅类半导体材料
柔性材料导电薄膜、金属镀层、ITO膜或纳米涂层
金属化薄膜电容器、导电塑料
海尔帕 HPS2663四探针测试仪 技术规格
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产品型号 |
HPS2663 |
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性能指标 |
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显示器 |
高清LCD液晶显示 |
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显示位数 |
5位 |
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测量范围和精度 |
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电阻率 |
10µΩ?1?1cm －20MΩ?1?1cm |
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方块电阻 |
10µΩ/□ －20MΩ/□ |
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直流电阻 |
10µΩ－20MΩ |
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精度 |
电阻率、方阻：4%；电阻：0.1%； |
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测量功能 |
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量程方式 |
自动，手动 |
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测量速度 |
快速: 6 次/秒，中速: 2次/秒，慢速: 2 次/秒 |
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触发方式 |
内部，手动，外部 |
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校正功能 |
专用治具短路清零 |
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测量端 |
四线制（2个检测端和2个驱动端)，5端 |
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分选接口 |
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分选功能 |
内建比较器：合格、上超和下超 |
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讯响 |
OFF,IN,HI,LO(音量可调） |
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接口配置 |
RS-232C接口/HANDLER/ |
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一般规格 |
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操作环境 |
0°C －40°C ，≤90%RH |
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电源要求 |
198V －242V(AC），47.5Hz －63Hz |
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功耗 |
≤30 VA |
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尺寸 |
335 mm(宽) x 120 mm(高) x 320 mm(深) |
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重量 |
2kg |
海尔帕 HPS2663四探针测试仪 配件信息
标准配件
• AC电源线
• 用户手册
• 测试报告
• 保修卡和合格证
• HPS58002四探针测试探头
选配配件
• 通讯线缆
• HPS58006四探针测试探头
• 专用配套测试台
• 软件光盘（上位机数据采集软件）
• USB转RS232通用串口线（1.8米）