Minitest1100 铝膜测厚仪
2019-08-12 15:28  点击:734
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德国EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂镀层测厚仪

Minitest1100铝膜测厚仪特点: MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机,各自具有不同的数据处理功能; 所有型号均可配所有探头; 可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机; 可使用一片或二片标准箔校准。

 
Minitest1100铝膜测厚仪功能 
型号

1100

2100

3100

4100

MINITEST 存储的数据量
应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数)

1

1

10

99

每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计,可设宽容度限值)

-

1

10

99

可用各自的日期和时间标识特性的组数

-

1

500

500

数据总量

1

10000

10000

10000

MINITEST统计计算功能
读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar

-

读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

-

-

组统计值六种x,s,n,max,min,kvar

-

-

组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

-

-

存储显示每一个应用行下的所有组内数据

-

-

-

分组打印以上显示和存储的数据和统计值

-

-

显示并打印测量值、打印的日期和时间

-

其他功能
透过涂层进行校准(CTC)

-

在粗糙表面上作平均零校准

利用计算机进行基础校准

补偿一个常数(Offset)

-

-

外设的读值传输存储功能

-

保护并锁定校准设置

更换电池是存储数值

设置限值

-

-

公英制转换

连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别zui大zui小值

-

-

连续测量模式中测量稳定后显示读数

-

-

浮点和定点方式数据传送

组内单值延迟显示

-

连续测量模式中显示zui小值


Minitest1100铝膜测厚仪
可选探头参数(探头图示) 所有探头都可配合任一主机使用。在选择适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。 F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层  N型探头:测量有色金属基体上的缘覆层  FN两用探头:同时具备F型和N性探头的功能

探头

量程

低端 分辨率

误差

zui小曲率 半径(凸/凹)

zui小测量 区域直径

zui小基 体厚度

探头尺寸

磁 感 应 法

F05

0-500μm

0.1μm

±(1%±0.7μm)

1/5mm

3mm

0.2mm

φ15x62mm

F1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x170mm

F3

0-3000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F10

0-10mm

5μm

±(1%±10μm)

5/16mm

20mm

1mm

φ25x46mm

F20

0-20mm

10μm

±(1%±10μm)

10/30mm

40mm

2mm

φ4066mm

F50

0-50mm

10μm

±(3%±50μm)

50/200mm

300mm

2mm

φ45x70mm

两 用

FN1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm N50μm

φ15x62mm

FN1.6P

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面

30mm

F0.5mm N50μm

φ21x89mm

FN2

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm N50μm

φ15x62mm

电 涡 流 法

N02

0-200μm

0.1μm

±(1%±0.5μm)

1/10mm

2mm

50μm

φ16x70mm

N.08Cr

0-80μm

0.1μm

±(1%±1μm)

2.5mm

2mm

100μm

φ15x62mm

N1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

2mm

50μm

φ15x62mm

N1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x170mm

N10

0-10mm

10μm

±(1%±25μm)

25/100mm

50mm

50μm

φ6050mm

N20

0-20mm

10μm

±(1%±50μm)

25/100mm

70mm

50μm

φ65x75mm

N100

0-100mm

100μm

±(1%±0.3mm)

100mm/平面

200mm

50μm

φ126x155mm

CN02

10-200μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面

7mm

φ17x80mm

注: F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头,用于管内测量。 N.08Cr适合铜上铬,FN2也适合铜上铬。 CN02用于缘体上的有色金属覆层。
Minitest1100铝膜测厚仪探头图示
FN1.6 0~1600μm,φ5mm 两用测头,可测铜铁基体上的非磁性覆层与有色金属 基体上的缘覆层 量程低端分辨率很高(0.1μm)  
FN1.6P 0~1600μm,φ30mm 两用测头, 特别适合测粉末状的覆层厚度  
F05 0~500μm,φ3mm 磁性测头,适于测量细小钢铁物体的薄覆层,如金属镀层,氧化层等 量程低端分辨宰很高(0.1μm)  
F1.6 0~1600μm,φ5mm 磁性测头 量程低端分辨率很高(0.1μm)  
F3 0~3000μm,φ5mm 磁性测头 可用于较厚的覆层  
F1.6/90 0~1600μm,φ5mm 90度磁性测头 尤其适合于在管内壁测量 量程低端分辨率很高(0.1μm)  
F10 0~10mm,φ20mm 适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层,如玻璃、塑胶、混凝土等  
F20 0~20mm,φ40mm 适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层,如玻璃、塑胶、混凝土等   
F50 0~50mm,φ300mm 适合测量钢结构(如水箱、管道等)上的防腐覆层的隔音覆层  
N02 0~200μm,φ2mm 非磁性测头,尤其适合测量有色金属基体上的氧化层等很薄的缘覆层 量程低端分辨率很高(0.1μm)  
N0.8Cr 0~80μm,φ2mm 适用于测量铜、铝、黄铜上的薄镀铬层  
N1.6 0~1600μm,φ2mm 非磁性测头,适于测量有色金属基体上的较薄的缘覆层 量程低端分辨率很高(0.1μm)  
N1.6/90 0~1600μm,φ5mm 磁性测头,适于测量较薄的缘覆层 尤其适合在管内壁测量 量程低端分辨率很高(0.1μm)  
N10 0~10mm,φ50mm 非磁性测头,适于测量较厚的缘覆层,如橡胶玻璃等  
N20 0~20mm,φ70mm 非磁性测头,适于测量较厚的缘覆层,如橡胶玻璃等  
N100 0~100mm,200mm 非磁性测头,适于测量较厚的缘覆层,如橡胶玻璃等
CN02 10~200μm,φ7mm 用于测量缘材料上的有色金属覆层,如覆铜板

亚测(上海)仪器科技有限公司是德国EPK区域一级代理商,现货供应MikroTest涂层测厚仪、MiniTest7400涂层测厚仪、Minitest720涂层测厚仪、Minitest1100涂层测厚仪、MiniTest600系列涂层测厚仪、Stratotest 4100C 型电磁炉壁测厚仪、GALVANOTEST库仑镀层测厚仪、QUINTSONIC超声涂层测厚仪等系列产品,欢迎广大新老客户前来咨询选购!

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