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超高分辨率纳米焦点DR检测系统
关键特征：
- 190kV/225kV/240kV穿透型高分辨率纳米焦点射线
- JIMA卡空间分辨率测试可达0.5微米
- 支持多种平板探测器，探元大小可选50微米/100微米/139微米/200微米
主要技术规格：
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微米焦点射线管 |
类型 |
穿透型纳米焦点射线管 |
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zui大管电压 |
190kV/225kV/240kV |
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冷却 |
封闭式自循环冷却 |
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焦点大小 |
0.5微米(采用JIMA卡测试) |
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探测器 |
类型 |
非晶硅平板探测器 |
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像素大小 |
100um /127um /139um/200um |
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像素数量 |
平板探测器：>2048′2048 |
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机械系统 |
类型 |
机械系统 |
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zui大有效检测范围 |
可定制化 |
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zui大承重 |
可定制化 |
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旋转 |
nx3600 |
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软件 |
类型 |
二维射线检测 |
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软件功能 |
系统控制、二维射线检测、平板探测器校正、图像处理、灰度分析、图像滤波、测量功能、支持定制化软件功能 |