快速温度变化试验箱10℃/min快速温度变化试验箱JW-TH-1000S-20_供应

快速温度变化试验箱10℃/min 快速温度变化试验箱JW-TH-1000S-20

2023-09-19 11:03 点击:928

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快速温度变化试验箱JW-TH-1000S-20

1. 产品
本公司拥有多位业界设计工程师，同欧洲技术合作多年的经验，故而产品具有节能.外型整洁.美观.性能稳定，可靠性高等。企业的服务具人性化: 其一：距客户端以200公里范围内（以4小时车程算）设有制造工厂及技术中心，确保了解售前.售中.售后.服务的快速性及合理性；其二：以零收费.终身制服务模式作为企业文化，并认真贯彻执行；公司产品已在得到广泛认同，与众多前500强企业基本结为良好的合作关系，如 SANYO. SONY. CANON. PHILIPS. OKI. EPSON. PANASONIC. SAMSUNG. SIEMENS. NOKIA. ASUS. DELTA. MBALIB. HITACHI. ENET等；有北京电子部十一所 .北京铁道部科研院.北京空三所北京电子部十二所.航天部239厂.邮电部机检测中心（北京）.航天技术进出口公司.中科院广州能源研究所.石家庄电子十三所 .天津712厂.信息产业部厂. 人民解放军6916厂（河北） .武汉凡谷电子技术研究所.郑州邮电部设计院等
2. 试样说明
本试验设备禁止：易燃、爆炸、易挥发性物质试样的试验及储存腐蚀性物质试样的试验及储存生物试样的试验或储存强电磁发射源试样的试验及储存
3. 容积和尺寸
标称内容积内箱尺寸外型尺寸		1000L W 1000×H 1000×D 1000 mm W 1620×H 2050×D 1770 mm
4. 性能
4.1. 测试环境条件 4.2. 测试方法	设备四周气流畅通，无高浓度粉尘，无腐蚀性或易燃易爆性气体环境温度为5～35℃ 相对湿度≤85%RH 循环冷却水温≤30℃ 循环冷却水供水压力为0.25～0.4MPa（风冷设备无此要求）温度变化速率符合相关标准
4.2.1温度范围	-70℃～+180℃
4.2.2温度波动度	≤ ±0.5℃ 空载条件下，设备在稳定状态下，工作空间中心点温度随时间的变化量，实测zui高温度与zui低温度之差的一半，以“±”表示，即温度波动度℃。
4.2.3温度均匀度	≤ 2℃ 空载条件下，设备达到稳定后，每次测试中实测zui高温度与zui低温度之差的算术平均值，即温度均匀度。
4.2.4温度偏差	≤ ±2.0℃ 空载条件下，设备中心点在规定时间内测量的平均值与设备显示温度平均值之差，即温度偏差。
4.2.5温度变化速率	升温速率: -40℃ ~ +85℃ ≤6.25 min 升温平均：20℃/min 降温速率: +85℃ ~ -40℃ ≤6.25 min 降温平均：20℃/min
4.2.6湿度范围	湿度范围：30～90%RH （+25℃~+85℃）
4.2.7相对湿度偏差	±2.5% R.H （≤75%R.H时湿度偏差：±5% R.H）

10℃/min快速温度变化试验箱，15℃/min快速温度变化试验箱，20℃/min快速温度变化试验箱，30℃/min快速温度变化试验箱，60℃/min快速温度变化试验箱

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