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半导体中空玻璃露点仪 型号:HAD-ZK-I
一、 用途 露点仪是根据中华人民共和国国定标准GB/T11944-2002《中空玻璃》研制的中空玻璃的检测仪器。使用于中空玻璃、真空玻璃及密封玻璃制品的露点检测。用于玻璃深加工企业的控制和监督检测。 二、 仪器结构与工作原理 本仪器由低温测试头和制冷机组组成,通过测试头和被检测样品的紧密接触,使样品表面局部冷却,当达到温度后,内部水气在冷点部分结露或结霜。露点仪主要检测样品在某一温度下是否结露或结霜。 三、 规格及主要参数 1、低温测试头表面直径:50mm。 2、测温范围:-60-0℃ 度:0.5% 3、工作电压:220伏 4、使用环境:温度0-50℃ 四、设备清单 1.制冷主机 1套 2.低温测试头 1个 3.真空吸盘 1个 4.产品合格证 1份 5.产品说明书 1份 |
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