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臻迈电子 日立镀层分析仪X-Strata920
我们的镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术，该技术已被普遍认可并且得到广泛应用，可以在无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析，可分析固体和液体，元素范围包括从元素周期表中的13Al到92U。
优化的微聚焦硬件和直观的用户界面，简化了常规分析，提高了产出，使用“一键式”操作可确保简单的培训就能同专业技术人员得到一样的结果。用户能容易地理解X荧光光谱，获得定制的校准和探索未知的材料。
镭射用于自动定位X射线光管/检测器与被测样品到较佳测试距离。
“一键操作”将测试头移动到zui佳位置，同时将样品图像定焦（显示在屏幕上）。
自动而简单的操作提高仪器测试的再现性，并将人为测量误差降到zui低。
注：较佳测试距离为12.7mm (0.5”)，由X射线测试头自动调节高度（Z轴）。
开槽式样品仓结合电机驱动样品台，可测量各种尺寸样品，包括小元件和大型平板样品，如尺寸大于仪器宽度的印制线路板。所有样品可以很方便地用程控XY平台放置并快速定位到样品上的各个待测点进行分析。
经过简单易学的指导，用户即可通过编程完成自动测量，实现zui大的样品测试量和无人操作的测试。
使用鼠标控制，可以方便地放置被测样品/零件，并且定位到测试点。
样品放置方便
Z轴自动控制（Z向行程：43mm/1.7”）
样品定位方便
样品台尺寸：560mm (22") 深 x 610mm (24") 宽
XY向行程：178mm (7") x 178mm (7")
zui大样品高度33mm (1.3”)。
臻迈电子 日立镀层分析仪X-Strata920