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赛黙飞世尔量色散X荧光光谱仪（原美国热电）（ED XRF）仪器介绍
＊端窗超高通量RH靶，76um铍窗，空气冷却
＊的大面积高厚度硅锂Si(Li)检测器
＊赛黙飞世尔量色散X荧光光谱仪（原美国热电）（ED XRF）拥有全数字化谱分析器 32bit 4096通道
＊高稳定性：RSD<0.3% 8小时
＊赛黙飞世尔量色散X荧光光谱仪（原美国热电）（ED XRF）检测元素：F~U
上海EDXRFX荧光光谱仪供应商，EDXRFX荧光光谱仪价格
一、赛黙飞世尔量色散X荧光光谱仪（原美国热电）（ED XRF）技术参数
样品室：样品类型 固体、粉末、液体、滤渣、镀层和其它
尺寸 30.5cm(w)x38.9cm(D)x6.6cm(H)
增高室(选购件): 21.5cm或37.1cm
单位盘 样品可大至样品室大小
10位盘(选购件) 带自转机构，样品可大至47mm
20位盘(选购件) 样品可大至31mm
自动和手动盘 为特种样品专用的样品盘，选购件
环境 空气、真空(选购件)和充氦(选购件)
上海EDXRFX荧光光谱仪供应商，EDXRFX荧光光谱仪价格
激发（核心元件）：
X-光管：超高通量，端窗，RH靶，76um铍窗，空气冷却，其它靶可选
X-光发生器 4-50KV，1KV间隔。O.02-2.OmA,0.02mA 间隔
滤光片 7种滤光片加1空位，自动选择
准直器(选购件) 1.0、2.0、3.5、6.8和8.8 五种
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X射线检测配置器（核心元件）
类型：Si(Li)硅锂
晶体面积：
Si(Li)面积15mm²，分辨率<155 eV
Si(Li)LN Si(Li)面积30mm²，分辨率<149 eV
晶体厚度： 3.5mm
检测元素：F~U
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制冷方式：电致冷/液氮致冷
稳定性：RSD<0.3% 8小时
灵敏度：Fe, Pb <3pmm（油）
再现性：RSD<0.3%/1x10负6次方计数
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谱处理器（核心元件）
处理器类型：全数字话 32bit 3 DSP
谱通道：2048 20eV/通道
修正时间：1~40ms, 用户选择
计数率：>100,000cps (live)
能量范围：400~4096eV
死时间影响：<3.0%
重叠校正：<0.3%
能量校正：软件自动
尺寸和重量
外形尺寸 宽71.88cm，高41.15cm，深59.18cm
重量 90.7kg
使用要求
电源 100、115或230VAC,50或60hz，功率1000W，真空泵需2000W
遥控诊断和遥控监测需要通过因特网连线
环境要求
温度 O～32℃
湿度 20～80％RH(无冷凝水)