一、北京KY-8808漆膜测厚仪产品介绍

本仪器采用磁性、涡流两种测厚方法根据烤漆原理，采用进口机芯，是的烤漆漆膜侧检测仪器。本仪器广泛地应用于制造业汽车工业二手车评估、汽车商检等检测领域。
产品规格：
●测量范围：0-1900μm/0-74.8㏕
●分辨率：0.1μm/1μm/0.1㏕
●测量误差：±（3%H+1μm）
●基底zui小直径：φ12mm
●基底zui小厚度：0.5mm
●凸面基底zui小曲率半径：2mm
●凹面基底zui小曲率半径：11mm
●供电：2×1.5V AAA电池
●工作温度范围：0-40℃
●工作湿度范围：10-95%RH
●外形尺寸：61.98×30.57×107.99mm
●重量：63.98g（不含电池）

二、北京KY-8808漆膜测厚仪产品功能
1.磁性金属基底表面非磁性漆膜厚度测量。
2.具有单次、连续、差值三种测量方式。
3.具有零点、二点、基本三种校准功能。
4.公英制单位选择。
5.LCD背光功能。
6.自动关机功能。

三、北京KY-8808漆膜测厚仪按键功能
1.ZERO键：开关机、零点校准及背光控制键。
2.MODE键：测量模式转换及校准数据增加键。
3.UNIT键：测量单位转换及校准数据减少键。

四、北京KY-8808漆膜测厚仪漆膜厚度测量
1.在空中按开关键开机，LCD全屏显示，然后听到BI的一声，本机进入测量状态，每次开机默认为单次测量状态。
2.将探头轻压到有涂层的金属基底上，本机发出BI-BI两声，LCD上显示被测涂层厚度值，同时LCD左上角显示Fe字符。
3.按MODE键，可选择测量方式，有单次测量、连续测量、差值测量三种测量方式可供选择。
4.单次测量是指每次测量测一个数据。连续测量是指只要探头不离开基底面，该机一直不断的测量。差值测量是指本次测量和上一次测量的差值。
5.按UNIT键，可选择测量单位，可选μm、㏕。
6.如果在铁基上开机，LCD全屏显示后，将显示ERR，然后关机，表示开机方式不正确。
7.LCD背光：开机，LCD背光默认亮，此时短按开关机键，可关背光和开背光。

五、北京KY-8808漆膜测厚仪校准操作步骤
本机有三种校准方式：
1.基本校准：一次使用，或者很久未使用，或者更换被测基底材料时应进行基底校准，基本校准共有7个校准点，校准时单位为μm。
a.准备好6片标准片，厚度在45～55，95～105，220～280，450～550，900～，1050，1900～1999，单位μm。
b.先按住MODE键保持，再按开机键，LCD全屏显示后，然后听到BI的一声，LCD显示0.0，LCD右下角显示C.字符，表示进入校准画面。
c.将探头轻压在表面没有涂层的铁基上，此时LCD上显示0.0，然后BI-BI两声，0.0校准。
d.拿开探头，LCD上显示50μm左右的数，进行个数校准，通过校准数据增加键或减少键，调整LCD上显示的值与校准片厚度一样后，将探头轻压在放置校准片的铁基上，BI-BI两声，个校准点已校准。
e.LCD上显示第三个数据，按前面的方法依次校准，直到后一个校准片校准后，LCD显示OVER,BI-BI两声后关机，基本校准完成。
f.基本校准完成后，可以测量和被校基底一样材料上涂层的厚度。
2.零点校准：
在空中开机，然后将探头轻压在基底表面，短按ZERO键，LCD显示0.0，完成零点校准。
3.二点校准：
a.行零点校准
b.取一校准片（如1000μm）测得值为1005μm，不松开探头，按校准数据增加键或减少键，调至LCD显示为1000μm，松开探头，完成二点校准。

六、北京KY-8808漆膜测厚仪LCD显示及按键功能
1.LCD全屏显示：
（1）.n：未用。
（2）.Fe：铁基符号。
（3）.SNG：单次测量。
（4）.CTN：连续测量。
（5）.DIF：差值测量。
（6）.测量数值显示区。
（7）.电池：电池电量提示。
（8）.μm：公制单位（1mm=1000μm）。
（9）.㏕：英制单位（1㏕=0.0254mm=25.4μm）。
（10）.C.：进入校准状态。
（11）.mm：未用。
2.部件名称：
A.LCD显示屏。
B.MODE：测量模式转换键及校准状态增加键。
C.UNIT：测量单位转换键及校准状态减少键。
D.ZERO：开关机键、零点校准及背光控制键。
E.测试探头。
F.电池门。

七、北京KY-8808漆膜测厚仪其它事项
注意事项：
影响测量精度的因素及有关说明：
a.基体金属磁性：磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理及冷加工因素的影响，应使用与被测件基体金属具有相同性质的铁基对仪器进行校准，亦可用待涂覆金属进行校准。
b.基体金属厚度：每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见产品规格中的要求（≥0.5mm）。
c.边缘效应：本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近被测件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
d.曲率：被测件的曲率对测量有影响。这种影响总随着曲率半径的减少明显地增大。
e.表面粗糙度：基底金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属镀件上取几个位置校对仪器的零点；或用对基体金属没有腐蚀的溶剂溶解除去覆盖层后，在校对仪器的零点。
f.磁场：周围各种电气设备所产生的磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。
g.表面清洁度：测量前，应清除表面上的任何附着物质，如尘土、油脂及腐蚀物质等，但不要除去任何覆盖层物质。

特殊说明：
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