双折射测量仪PA-300
2022-03-01 11:18  点击:1281
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PA系列是日本Photonic lattice公司倾力打造的双折射/应力测量仪,PA系列测量双折射测量范围达0-130nm,可以测量的样品范围从几个毫米到近500毫米。PA系列双折射测量仪以其专利技术的光子晶体偏光阵列片,独有的双折射算法设计制造,得到每片样品仅需几秒钟的测量能力,使其成为业内,特别是工业界双折射测量/应力测量的第一选择。

  
 双折射测量仪PA-300主要特点:
  • 操作简单,测量速度可以快到3秒。
  • 视野范围内可一次测量,测量范围广。
  • 更直观的全面读取数据,无遗漏数据点。
  • 具有多种分析功能和测量结果的比较。
  • 维护简单,不含旋转光学滤片的机构。
  • 高达2056x2464像素的偏振相机。

 双折射测量仪PA-300应用领域:
  • 光学镜片
  • 智能玻璃基板
  • 碳化硅,蓝宝石等


 双折射测量仪PA-300技术参数:

项次 项目             具体参数
1 输出项目 相位差【nm】,轴方向【°】,相位差与应力换算(选配)【MPa】
2 测量波长 520nm
3 双折射测量范围 0-130nm
4 测量最小分辨率 0.001nm
5 测量重复精度 <1nm(西格玛)
6 视野尺寸 27x36mm到99x132mm(标准)
7 选配镜头视野 低至7x8.4(扩束镜头)
8 选配功能 实时解析软件,镜片解析软件,数据处理软件,实现外部控制


 测量案例:


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