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XTOM——三维光学面扫描系统
XTOM三维面扫描系统基于双目立体视觉原理，采用的外差式多频相移三维光学测量技术，测量精度、测量速度等性能都达到水平，与传统的格雷码加相移方法相比，测量精度高，抗干扰能力强、受被测工件表面明暗影响小，可以扫描测量几毫米到几十米的工件和物体。广泛适用于各种需求三维数据的行业，如汽车工业、飞机工业、摩托车外壳及内饰、家电、雕塑等。
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XTOM三维面扫描系统基于双目立体视觉原理，采用的外差式多频相移三维光学测量技术，单幅测量幅面大小（从30毫米到1米）、测量精度、测量速度等性能都达到水平，与传统的格雷码加相移方法相比，测量精度更高，单次测量幅面更大、抗干扰能力强、受被测工件表面明暗影响小，而且能够测量表面剧烈变化的工件，可以扫描测量几毫米到几十米的工件和物体。广泛适用于各种需求三维数据的行业，如汽车工业、飞机工业、摩托车外壳及内饰、家电、雕塑等。
系统主要由测量头、控制箱、标定板、标志点、计算机及检测分析软件等组成。
系统应用范围包括：
² 逆向设计：快速获取零部件的表面点云数据，建立三维数模，从而达到产品快速设计的目的。
² 产品检测：生产线产品质量控制和形位尺寸检测，特别适合复杂曲面的检测，可以检测铸件、锻件、冲压件、模具、注塑件、木制品等产品。
² 其它应用：文物扫描和三维显示、牙齿及畸齿矫正、医学整容修复等。
1.1 系统特色
l 采用的外差式多频相移技术，同时也支持格雷码加相移的测量方法
l 根据用户需求，配备一组或多组镜头，可实现多种测量幅面：32mm×24mm、64mm×48mm、128mm×96mm、200mm×150mm、400mm×300mm、800mm×600mm等
l 多线程运算，扫描及计算速度快，单次扫描2~4秒，扫描一次获得130~400万的点
l 扫描过程全自动拼接，支持基于标志点和被测物特征的两种拼接方式
l 扫描效率高，支持手动选区扫描，提高扫描速度和后期处理效率
l 在扫描得到物体三维形状的同时还可以扫描得到并输出纹理信息
l 大多数物体无须特殊处理可直接扫描，可以扫描彩色甚至黑色物体
l 后处理功能非常丰富，具备点云优化降噪、点云融合（重叠面删除）、点云补洞、三角化等自动后处理功能
l 辅助分析工具非常丰富，具备点云测距、多种坐标变换、元素拟合、各种角度及尺寸分析功能
l 具备多种数据输出接口：点云（ASC，IGS），三角形网格（STL），纹理贴图（OBJ）
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应用范围
苏州三维扫描仪，三维扫描仪厂家，大幅面三维扫描仪 功能特色
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规格型号
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| 产品型号 |
TOPSCAN-TC 单目型 |
TOPSCAN-MIC 教育型 |
TOPSCAN-EDU 教育四目 |
TOPSCAN-ET 工业型 |
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相机像素 |
1×1300000 ~2000000 | 2×1300000 ~2000000 | 4×1300000~2000000 | 2×1300000 ~4000000 |
| 扫描范围 |
128×96mm
400×300mm
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32×24mm
64×48mm
128×96mm
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128×96mm
400×300mm
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128×96mm
400×300mm
800×600mm
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| 测量精度 | 0.02 ~0.04mm | 0.008~0.015mm | 0.03~0.05mm | 0.015~0.03mm |
| 采样点距 | 0.15 mm~0.3mm | 0.08~0.15mm | 0.12~0.25mm | 0.10~0.25mm |
| 扫描方式 | 非接触式扫描 | |||
| 输出格式 | ASC，STL、PLY | |||
| 扫描时间 | 3~5S | |||
| 拼接方式 | 标志点全自动拼接，手动选点拼接 | |||
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