X荧光射线膜厚与元素(RoHS)分析仪 XRF-2000 (R)系列 
H-Type
L-Type
PCB-Type
  
 介绍：

   X荧光射线膜厚分析仪是利用XRF原理来分析测量金属厚度及物质成分，可用于材料的涂层/镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。XRF-2000系列分为以下三种：

1. H-Type: 密闭式样品室，方便测量的样品较大，高度约100mm以下。

2. L-Type: 密闭式样品室，方便测量 样品较小，高度约30mm以下。

3. PCB-Type: 开放式样品室，方便大面积的如大型电路板高度约30mm以下的量测。

4. R-Type: 结合膜厚量测，元素成份及含量分析功能(RoHS分析仪)。
 
应用:

  测量镀金、涂层、薄膜、元素的成分、含量或者是厚度，其可侦测元素的范围：Ti(22)~U(92)。RoHS: Al(13)选配。
 
行业:

  五金类、螺丝类、PCB类、 连接器端子类行业、电镀类、金饰相关行业等。
 
特色:

 非破坏，非接触式检测分析，快速精准。

 可测量高达六层的镀层(五层厚度+底材)并可同时分析多种元素。

 兼容Microsoft 微软作业系统之测量软件，操作方便，直接可用Office软件编辑报告。

 标准配备 : 溶液分析软件，可以分析电镀液成份与含量。

 准直器口径多种选择，可根据样品大小来选择准值器的口径。

 移动方式： 全系列全自动载台电动控制，减少人为视差。

 雷射 自动对焦，配合彩色CCD撷取影像使用point and shot功能。

 独特2D与3D或任意位置表面量测分析。

 元素成份与含量分析1ppm侦测极限，兼容于RoHS/WEEE/ELV有害物质检测分析。(选配)

 标准ROI软件搭配内建多种专业报告格式，亦可将数据、图形、统计等作成完整报告。

 光学20X影像放大功能，更能精确对位。

 单位选择：mils、uin、mm、um。

 优于美制仪器的设计与零件可 靠度以及拥有价格与零件的优势。

 仪器正常使用保固期一年，强大的专业技术支援及良好的售后服务。

 测试方法符合ISO 3497、ASTM B568及DIN 50987。