品牌:1647
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EDX1800B测厚仪采用下照式结构，仪器操作简单，测试，售后服务可靠及时。
性能特点
EDX1800B采用下照式：适合平面样品的镀层测试需求；准直器和滤光片：多种准直器和滤光片的电动切换，满足不同样品材质和形状的检测；移动平台：精细的手动移动平台，方便定位测试点；高分辨率探测器：提高分析的准确性；新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达100W的功率实现更高的测试效率。
应用领域
铁基－－－－□Fe/Zn,□Fe/Cu，□Fe/Ni，□Fe/Cu/Sn，□Fe/Cu/Au，□Fe/Cu/Ni，□Fe/Cu/Ni/Cr，
□Fe/Cu/Ni/Au，□Fe/Cu/Ni/Ag
□Fe/Cu/Ni/Au，□Fe/Cu/Ni/Ag
铜基－－－－□Cu/Ni，□Cu/Ag，□Cu/Au，□Cu/Sn，□Cu/Ni/Sn，□Cu/Ni/Ag，□Cu/Ni/Au，□Cu/Ni/Cr
锌基－－－－□Zn/Cu，□Zn/Cu/Ag，□Zn/Cu/Au
镁铝合金－－－－□Al/Cu，□Al/Ni，□Al/Cu/Ag，□Al/Cu/Au
塑胶基体－－--plastic/Cu/Ni，plastic/Cu/Ni/Cr
下照式X-RAY厚度检测仪厂家
技术参数
技术参数
1 分析元素范围：S-U
2 同时可分析多达3层以上镀层
3 分析厚度检出限达0.01μm
4 多次测量重复性可达0.05μm
5 定位精度：0.5mm
5 测量时间：30s-300s
6 计数率：1300-8000cps
7 仪器适合测试平面。以单层Fe镀Ni的标样为例，分析的范围是0.01—30um，在这个范围内，才能检测。0.5-10um的，偏差是5%，就是说真值是1um，用仪器测试的值是0.95-1.05um。
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仪器硬件配置
仪器硬件配置
1. X 光管
2. 高、低压电源
3. MCA多道分析器:
4. 高摄像头
5. 移动平台（自动）
6. 样品腔
7. 准直器自动切换
8. 滤光片自动切换
9. 准直器和滤光片的自由组合
10. 标准样品