SS-JSQ-CHY-U 智能自动型薄膜测厚仪
2018-11-26 13:14  点击:386
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品牌:1263
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智能自动型薄膜测厚仪/智能薄膜测厚仪 型号:SS-JSQ-CHY-U

薄膜自动测厚仪适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片等各种材料厚度的测量。 
薄膜自动测厚仪特征: 
1、
机械接触式测量方法不受测量材料的限制,兼容ISO、ASTM 等多种测量标准 
2、进口优质部件选择,成熟经验设计 
3、测量、运行可靠,测量分辨率高达0.1微米 
4、支持手动、自动双重测量模式 
5、自动进样系统标准配置,试样测试长度不受限制,真正实现了自动、连续测量 
6、自动进样间距、测量点数、进样速度等参数可调,可更好地满足用户的统计分析需求 
7、测量数据高清晰大屏幕液晶显示,试验数据一目了然 
8、测量过程即时显示大值、小值、平均值和统计偏差 
9、设备造形美观大方新颖别致,符合人机工程学原理 
10、标准RS232通信端口配置,可接驳计算机 
11、专业软件配置,数据起伏曲线、偏差图 、圆形坐标图等模式显示,统计功能直观、全备
13、预留了网络传输接口,支持TCP/IP等协议,可实现测试数据在局域网与互联网之间的信息共享 
薄膜自动测厚仪技术参数: 
1、测量范围:0~2mm(0~6mm可选) 
2、分 辨 率:0.1μm 
3、测量压力:17.5±1kPa(薄膜);  标准配置 
50±1kPa(纸张)  可选配置 
接触面积:50mm2(薄膜); 标准配置 
200mm2(纸张) 可选配置 
4、自动进样间距:1~1000mm 
5、自动进样速度:0.1~99.9mm/s 
6、电 源:AC 220V 50Hz 
7、外形尺寸:451(L)mm×329(B)mm×347(H)mm 
8、净 重:32kg 
薄膜自动测厚仪执行标准 
GB/T6672、GB/T451.3、GB/T6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO4593、ISO534、ISO3034、DIN53105、DIN53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS3983、BS4817
联系方式
公司:北京奥德盛世科技有限公司
状态:离线 发送信件 在线交谈
姓名:李冉(女士)
职位:销售部经理
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