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德国蔡司工业ct zeiss纳米ct SPHERIS203测量与检验整体部件
ZEISS METROTOM 是一种用于测量和检验塑料或轻金属部件的工业计算机断层扫描测量系统。而在利用传统测量机测量时，此类隐藏性的结构信息只有将零件通过费时的层层破坏方能获得。
轻松且地进行多样化特征检测
利用 ZEISS METROTOM 计算机断层扫描系统可一次扫描海量的零部件特征。这些测量结果非常，且具可追溯性。和接触式测量方法不同，ZEISS METROTOM 获取海量测量点时，时间显著缩短。
直观简易的软件操作
仅需通过短时间的 ZEISS METROTOM OS 软件培训课程，操作人员即可对零件进行扫描，透视零件的内部。利用 ZEISS CALYPSO 可评估 CT 数据，再利用 ZEISS PiWeb 即可快速地将两者融合于同一份测量报告中。
高通量的计算机断层扫描技术
ZEISS VoluMax CT 系统是专为快速检测大量工件的应用需求而设计的。蔡司可根据不同的测量需求来定制相应的机型及软件。ZEISS VoluMax 可配置手动或自动上下料装置。
CT 系统解决方案：利用 ZEISS VoluMax 进行生产过程中测量
在生产过程中直接进行测试
ZEISS 在线 CT 扫描机可在生产过程中 检验已加工的塑料部件和轻量化金属组件–即使在恶劣的生产环境中也是如此。该 CT 扫描机会自动输出测量结果是否合格，进而挑出异常的工件。进行 CT 连续检测过程中，系统可以捕获及储存大量不同的产品特征。