LED冷热冲击试验操作规范

一、目的：检测LED光电特性。

二、范围：本公司之LED成品试验。

三、定义：无

四、权责：（1）试验单位：LED品质部、LED工程技术部。

                （2）不合格品依照《不合格品管制程序》办理。

五、试验步骤：

1、操作步骤：

（1）取20粒被测LED合格产品，用标准测试机测试其光电特性，并编好顺序相应做好测试记录；

（2）将测试后的LED放入冷热冲击机实验区中；

（3）先确认冷热冲击试验箱水压（2kg）、水温（20C）及气压（3-4k8），然后按“POWER”打开冷热主画面，按“目录”进入编辑菜单，打开“开新程式”，输入程式名称（LRCJ），后输入程式H:+85℃ 5min~ L: -40℃ 5min 50cycle，储存程式（见图5-2-1至5-2-5）；

（4）按“状态监视”回到主画面，按“载入”调取程式(LRCJ)，再按“运转”程式运转（见图5-2-2，5-2-6）

（5）在50cycle后取出LED，并放在室温下2小时后，用标准测试机测试其光电特性，并按相应试记录；

（6）比较测试前后记录：

        1）DLED品质：光电特性变化率是否≤35%；

        2）LED工程技术：光电特性变化率是否≤35%；

        3）电压变化率<10%；

        4）漏电流Ir是否<10μA。

2、参考图片：

3、注意事项：

（1）打开冷热冲击机前检查水压(2kg)，水温(20C)及气压(3-4kg)；

六、相关文件：

（1）《SMDLED工艺卡》SEG3ES001A0

七、相关表单：

（1）《LED产品分BIN表》SEG4191A0

（2）《信赖性试验报告》SEG4001A0