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LCL-4A椭圆偏振测厚仪产品介绍LCL-4A椭圆偏振测厚仪使用消光法测量薄膜厚度和折射率；手动调节测试过程中的起偏和检偏角度。椭圆偏振法广泛地应用于固体基片上介质薄膜的测量。在己有测定薄膜厚度的方法中，它是能测量到薄和精度高的一类。
LCL-4A椭圆偏振测厚仪主要实验内容
LCL-4A椭圆偏振测厚仪主要配置参数
LCL-4A椭圆偏振测厚仪
2023-03-02 09:30 点击:864
价格:未填
LCL-4A椭圆偏振测厚仪使用消光法测量薄膜厚度和折射率；手动调节测试过程中的起偏和检偏角度。椭圆偏振法广泛地应用于固体基片上介质薄膜的测量。在己有测定薄膜厚度的方法中，它是能测量到薄和精度高的一类。
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LCL-4A椭圆偏振测厚仪使用消光法测量薄膜厚度和折射率；手动调节测试过程中的起偏和检偏角度。椭圆偏振法广泛地应用于固体基片上介质薄膜的测量。在己有测定薄膜厚度的方法中，它是能测量到薄和精度高的一类。
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联系方式
公司:天津良益科技有限公司
状态:离线 发送信件 在线交谈
姓名:侯奇峰(先生)
职位:销售经理
电话:13821410475
手机:13821410475
地区:天津
地址:天津市津南区咸水沽镇海河科技园区聚兴道7号
QQ:33183013
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