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LCL-13薄膜测厚仪产品介绍LCL-13薄膜测厚仪根据多次反射光谱相干原理，本仪器可提供非接触测量薄膜厚度，折射率，吸收系数等；采用新软件版本，具有纳米级测量和方便使用等优点；测量方便度和准确度远好于常用光学椭偏仪。是薄膜研究，光学镀膜，和半导体生产不可缺少的测量研究仪器。
LCL-13薄膜测厚仪主要实验内容
LCL-13薄膜测厚仪主要配置参数
LCL-13薄膜测厚仪
2023-03-02 09:30 点击:575
价格:未填
LCL-13薄膜测厚仪根据多次反射光谱相干原理，本仪器可提供非接触测量薄膜厚度，折射率，吸收系数等；采用新软件版本，具有纳米级测量和方便使用等优点；测量方便度和准确度远好于常用光学椭偏仪。是薄膜研究，光学镀膜，和半导体生产不可缺少的测量研究仪器。
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LCL-13薄膜测厚仪根据多次反射光谱相干原理，本仪器可提供非接触测量薄膜厚度，折射率，吸收系数等；采用新软件版本，具有纳米级测量和方便使用等优点；测量方便度和准确度远好于常用光学椭偏仪。是薄膜研究，光学镀膜，和半导体生产不可缺少的测量研究仪器。
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联系方式
公司:天津良益科技有限公司
状态:离线 发送信件 在线交谈
姓名:侯奇峰(先生)
职位:销售经理
电话:13821410475
手机:13821410475
地区:天津
地址:天津市津南区咸水沽镇海河科技园区聚兴道7号
QQ:33183013
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