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YT-H4E电脑测控薄膜测厚仪电脑测控薄膜测厚仪是薄膜厚度测定的专用仪器，广泛适用于片状材料厚度测定；是包装、科研及产品质量监督检验等行业和部门理想的试验设备。
电脑测控薄膜测厚仪应用范围
薄膜
电脑测控薄膜测厚仪产品特性
1.一键测试，简单易懂
2.主板采用新技术全新设计，CPU采用32位的ARM处理器，提高了仪器的处理速度，计算数据更加快速
3.采用5寸彩色触摸屏，中文显示、触摸按键，使操作变得简单易懂
4.测头上升下降速度可调
5自动测量、统计、打印测试结果，并具有数据保存功能
6.采用热敏打印机芯，无须使用油墨和色带、工作时无噪音、打印速度快等特点
7.本仪器配有标准RS232接口，可配合微机软件进行通讯(另购)
电脑测控薄膜测厚仪主要技术参数
1.电源电压 AC(100～240)V，(50/60)Hz
2.型号 YT-H4E
3.测量范围 (0～4)mm
4.分辨率 0.0001mm
5.示值误差 ±0.5％
6.示值变动性 ≤0.5％
7.接触面积 50 mm2
8.接触压力 (17.5±1)kPa
9.测头下降速度 （0.5～10）mm/s可调
10.打印 内置热敏打印机
11.通信输出 RS232
12.外形尺寸 320×310×400 mm
13.仪器净重 ≤26.5kg
标准配置
1.电脑厚度测定仪主机
2.打印纸
3.电源线
4.RS232接口及微机软件(另购)
执行标准
?GB/T 451.3，QB/T 1055，GB/T 24328.2，ISO 534，GB/T 6672