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Xradia 510 Versa 拥有高达 0.7 μm 的真实空间分辨率，
体素大小低至 70 nm ，将接近同步辐射技术水平的成
像性能扩展到了世界各地的重要实验室。结合先进的吸
收衬度技术和适用于软材料或低原子序数材料的创新相
位衬度技术，Xradia 510 Versa 的通用性得到提升，以
至能够突破传统计算机断层扫描方法的局限性。